飞纳扫描电镜颗粒统计分析测量系统 Phenom Particle Metric

                                         —— 研究颗粒和粉末的强大工具

使用基于飞纳台式扫描电镜（Phenom SEM）的 ParticleMetric 颗粒测试工具，以*快、*简便的方式实现颗粒的可视化分析，是微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰图像质量的 Phenom 飞纳扫描电镜，加上 Particle Metric 颗粒系统的颗粒图像分析功能，为用户提供了分析颗粒和粉末试样的强大工具。

基于飞纳扫描电镜的颗粒分析解决方案 ParticleMetric 能够使用户根据需要，随时获取所观测颗粒的面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比、充实度、伸长率、灰度等级、长轴、短轴长度（椭圆）、凸壳体、重心、像素点数、凸状物等数据，*终实现 ParticleMetric 加速颗粒物分析速度、提升产品质量的目的。

飞纳扫描电镜颗粒工具ParticleMetric的功能

1.可进行以下颗粒分析

• 颗粒尺寸范围：100nm ~ 0.1mm

• 颗粒探测速度：高达 1000 个/分钟

• 颗粒测量属性：大小、形状、数量

2.可以测量的颗粒参数

• 面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比

• 充实度、伸长率、灰度等级、长轴长度和短轴长度（椭圆）

• 凸壳体、重心、像素点数、凸状物

3.可以提供的图形显示

• 按数量或体积的线性、对数、双对数点状图

• 任何指定参数的散点图

• 单个颗粒的 SEM 图像

4.可以提供的图形输出

• Word 版本 docx 格式的报告，TIFF 格式的图像

• CSV 文件，离线分析的项目文件（.PAME）ProSuite 的一部分

飞纳扫描电镜颗粒系统 ParticleMetric 工具的优势

1. 加载 ParticleMetric 软件的飞纳台式扫描电镜能够轻松生成并分析图像，方便用户采集超细颗粒的形貌信息和颗粒的尺寸数据；

2. 全自动的飞纳扫描电镜颗粒测试系统 ParticleMetric 软件测量可以实现超出光学显微镜、更好景深的视觉效果，为用户提供颗粒物的结构设计、研发和质量控制方面的细节数据；

3. ParticleMetric 软件生成的柱状图、散点图可以作为报告的内容按照指定格式输出。任何柱状图都可以按照被测颗粒的不同属性，生成数量柱状图和体积柱状图。散点图可以按照任何一项颗粒的特性生成，以便揭示相关联系和趋势；

4. 直接由 Phenom 获取图像，识别并确认诸如破损颗粒、附着物和外来颗粒，关联颗粒物的特征，比如直径、充实度、纵横比和凹凸度；

5. 便捷的操作提升了工作效率并使计划表简单化和可视化；

6. 无限制的图像采集，可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流或以后参考；

7. Phenom 的易用性和对环境的良好适应力，用户可以将试样**程度视觉化；

8. 附有高清图片的统计学数据

飞纳扫描电镜颗粒系统 ParticleMetric 软件适合的应用领域

化妆品行业；食品行业；化工行业；制药行业；陶瓷；颗粒以及表面涂层；颗粒状添加剂；环境颗粒；滤器/筛网公司