
分辨率:
优于 1nm探测器:
BF、DF、HAADF加速电压:
1kV-20kV连续可调电子枪:
肖特基场发射电子枪电子光学放大:
2,000,000x光学放大:
27-160x复纳科技扫描电镜
复纳科技Pharos-STEM
国产扫描电镜
看了Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜的用户又看了
留言询价
电话询价
咨询Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜
使用微信扫码拨号
Phenom Pharos 台式场发射扫描电镜因其多功能性和**的成像性能赢得了良好的口碑 —— 即使是在传统较难观测的样品中也表现优异。直观的用户界面有助于将高分辨率图像呈现给用户, FEG 场发射电子源在 1-20kV 的加速电压范围内都提供了高分辨率。
Phenom Pharos STEM 台式场发射 SEM-STEM 电子显微镜,配备了 STEM 样品杯,从另一个维度提高了其成像能力和应用的多样性。

作为全球**台式场发射 SEM-STEM 电子显微镜,在较低的加速电压下,减少了电子束对样品的损伤,显著提高了图像的衬度。在台式扫描电镜下即可快速获得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像,且支持用户自定义成像。Pharos STEM 样品杯为材料领域的研究提供了高效、全面的表征方式。

BF 像:主要是样品正下方同轴的探测器接收透射电子和部分散射电子。影响明场像衬度(Contrast)的主要因素是样品的厚度和成分。样品越厚,原子序数(Z)越大,穿透样品的电子越少,图像就越暗,因此 BF 像对轻元素(Z 较小)比较敏感。
DF 像:主要是样品下方非同轴位置的探测器接收散射电子信号。
HAADF 像:主要是接收高角度的非相干散射电子信号。原子序数(Z)越大,散射角也越大,原子核对入射电子的散射作用越强,图像上更亮。因此又被称为 Z 衬度像。
三种成像模式各有特点,具有不同的成像优势,可以根据样品情况搭配使用,成像结果进行互相验证。

烟草花叶病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像
对比扫描电镜的背散射电子图像(BSE),杆状的烟草花叶病毒在 BF 模式下更加直观。BF 模式更适合观察轻元素(Z 较小),轻元素散射作用较弱,因此在 HAADF 模式下较难清晰观测细节。
而杆状烟草花叶病毒周围较厚的脂质球,电子较难穿透,BF 像上相对较暗。在 DF 模式下,密度较大的脂质球表现出较强的衍射,因此在 DF 像上相对较亮。
规格参数:
系统兼容:Phenom Pharos G2 台式场发射扫描电镜
样品兼容:ø 3 mm TEM 载网(夹具固定)
成像时间:< 40 s*
成像模式:BF、DF、HAADF、 自定义**
成像工作流程:固定的 WD,设置**的探测器 ,完全集成的 UI
真空度:0.1, 10 & 60 Pa
分辨率:优于 1 nm
* 加载样品到呈现图像的时间
** STEM 具有 11 分割探测器,用户可以对其进行自定义选择
Pharos STEM 电子显微镜,利用 FEG 高亮度电子源,可在透射模式下对薄样品进行成像。专用的样品夹可轻松装载常规 3mm 直径透射电镜 (TEM) 载网,实现样品的快速、安全切换。STEM 样品杯可提供明场 (BF) 、暗场 (DF) 和高角度环形暗场 (HAADF) 像,并支持自定义选择成像模式。
2020-12-09
今年 11 月 2 日起,每日早七点至晚八点,包括延安高架、南北高架在内的多条道路禁止“外牌”、“临牌”小客车、未载客的出租车等通行。因为新能源汽车车牌较容易获得,不少人转投新能源汽车,因此带动了新能
2020-12-21
随着钢铁行业进入微利时代,生产具有更高附加值的高品质洁净钢也成为钢铁企业自身发展的需求。因此,洁净钢技术研究及其生产工艺控制技术目前已是各钢铁企业的重要课题。生产洁净钢的关键在于减少钢中的杂质,而控制
2020-12-21
2020-12-21
在生命科学研究中,想真正“看见”蛋白质或 DNA 的动态变化,并不是一件容易的事。高速原子力显微镜(HS-AFM)能够在液体环境下实时观察生物分子行为,被认为是研究生物动态过程的重要工具。但要获得真正
不少科研分析用户使用传统台式 CT 时,常会陷入两难困境:设备检测小型样品时,成像效果很好,可一旦要检测大尺寸样品,要么样品仓容纳不下,要么射线穿透力不足,最终成像细节模糊,无法兼顾样品尺寸与成像精度
第21届嗅觉与电子鼻国际研讨会(ISOEN 2026) 将于 2026 年 5 月 17 日至 20 日在重庆融创施柏阁酒店(重庆市沙平坝区土竹街文光大道 18-4 号)举行。&n
01.技术清洁度的新要求技术清洁度(Technical Cleanliness,TC)是汽车及高端精密制造领域的重要质量控制指标,直接影响零部件的磨损程度、使用寿命、失效风险,以及整机设备的可靠性、稳
半导体器件、晶圆、多层芯片与光电元件的微观结构观测,对表面质量、截面平整度、定位精度、无损伤提出极高要求。传统机械研磨、抛光、切割会带来划痕、应力层、非晶层、界面变形、热损伤等问题,导致 SEM 成像
引言粉末技术经过多年的发展,已经形成多样化的制备及加工技术。其中,表面包覆技术作为提升粉末物理化学性能的重要手段,长期以来一直缺乏有效的精密手段。与传统的表面改性不同,PALD 是真正可以实现原子级/
Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜的工作原理介绍?
Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜的使用方法?
Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜多少钱一台?
Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜的说明书有吗?
Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜的报价含票含运费吗?
Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜有现货吗?
0有办事机构吗?
0销售电话是多少?