飞纳电镜推出的 ChemiSEM 技术，将 SEM 形貌观察与 EDS 成分分析相结合，让工作流程更加流畅，简化了许多材料（包括金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软物质材料等）的分析流程：通过彩色元素分布图与 SEM 图像的实时叠加，在成像同时提供高质量的成分定性定量信息。

实时分析获取更深层的信息 所有的 SEM-EDS 分析本质上都是复杂的，对于产品故障分析和污染物识别等应用，研发 需要不断改进质量控制（QC）和故障分析（FA）流程，以更好地解决出现的问题。 ChemiSEM 技术的实时分析在质量控制和生产效率提升方面提供了独特的优势。它的 EDS 集成在仪器中，并在电镜工作时始终在后台收集成分数据，逐步建立样品更全面和详 细的信息，帮助您更快地定位到关键质量问题。实时定量面扫：不再有

实时定量面扫：不再有分析干扰 传统的元素分析中，复杂样品元素分布和相分布面扫并不能及时得到精确的结果。例 如，一个峰的信号有时会被识别为两个元素，产生错误，干扰样品QC 问题的判断。 凭借创新的算法和智能光谱拟合，ChemiSEM 技术可以帮助您的实验室团队实现准确的 元素识别和量化—— 即使在处理多个重叠元素时也是如此。

ChemiSEM 定量面扫：ChemiSEM 技术自动处理原始信号，生成定量面扫结果。数据被很好地解析，能够有效避免和 峰和重叠峰的影响。并且使用算法同时处理 BSE（背散射电子）和 EDS 信号，从而可以实时显示样品的形态和 元素定量结果。

无偏差相分析 传统的相分析高度依赖于对样品的假设，当存在谱峰重叠或强度不足而遗漏了元素时， 这可能会是一个问题。 有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技术中的一项新功能）后，可以避免这种情况。复杂样 品的分析能够做到完全无偏差，可以基于数据单元中所有光谱结果，系统地识别每个独 立的相。随后，数据分析可以在没有任何元素预定义的情况下自动运行，无需丰富经验 即可定位次要/微量元素，明确识别主要和次要成分，完成更深入、更全面的分析。

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使用 ChemiPhase 对地质切片的分析，每个相的能谱成分被自动提取和计算，可以将不同矿物相有效区分。

自动样品漂移校正 成分分析过程中，准确和有效的定量结果需要一个正确且稳定的样品位置信息。 通常在图像漂移的情况下，研究人员需要多次重新获取分析数据，或者等待样品停止漂 移后再获取数据，这两种方式都会降低测试效率。 通过不断监控样品位置，ChemiSEM 软件提供自动样品漂移校正，使高倍率操作和较长 时间的能谱采集成为可能。帮助大家节省宝贵的时间和精力，专注于更重要的事情：尽 快获取**质量的数据。