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REDUX品牌
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加拿大样本
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复纳科技REDUX
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ICSPI REDUX 原子力显微镜｜台式AFM｜纳米级3D形貌分析系统
ICSPI REDUX 原子力显微镜是一款基于芯片化技术（AFM-on-a-chip）的台式纳米表征设备，集高自动化、快速扫描与易操作性于一体。系统无需复杂光学调节与激光对准，即可实现亚纳米级分辨率的三维形貌成像与定量分析，广泛适用于材料科学、半导体、生命科学及教学实验等场景。
该设备通过高度集成的MEMS传感器与自动化扫描流程，大幅降低操作门槛，实现“3步完成纳米成像”的高效工作模式。
自动配置、自动接近、自动扫描
无需激光对准，减少人工干预
3次点击即可完成扫描流程
*快约3分钟获取完整数据
常规扫描时间约1分钟级
支持高通量样品检测
集成XYZ扫描与传感系统于1 mm²芯片
基于MEMS压阻传感器，无需复杂光路
稳定性高，维护成本低
电动XY及Z轴平台，精准定位
集成光学显微镜，实现快速区域选择
提升操作效率与重复性
单芯片可使用超过1000次扫描
无明显性能衰减
显著降低耗材成本
三维形貌成像（3D Topography）
表面粗糙度分析（Ra/Rq等）
薄膜厚度及台阶高度测量
纳米颗粒尺寸与分布分析
相位成像（材料成分差异分析）
半导体与微电子（薄膜、晶圆检测）
新材料与纳米材料研究
生物样品表面形貌分析
教学与科研实验室
工业质量控制与失效分析
| 项目 | REDUX AFM | 传统AFM | SEM |
|---|---|---|---|
| 操作难度 | 极低（自动化） | 高 | 中 |
| 成像环境 | 空气中即可 | 需复杂调节 | 真空 |
| 数据获取时间 | ~3分钟 | ≥1小时 | ≥1小时 |
| 样品适应性 | 非导电样品可测 | 部分受限 | 需导电 |
| 培训时间 | 极短 | 数天-数周 | 数天 |
| 成本 | 低 | 中 | 高 |
**扫描范围：20 μm × 20 μm
*小扫描范围：300 nm × 300 nm
垂直范围：20 μm
本底噪声：< 0.5 nm rms
快速扫描（128 px）：约16 s
常规扫描（256 px）：约80 s
高分辨率（512 px）：约5 min
**分辨率：1024 × 1024
**样品尺寸：125 mm × 95 mm
**样品高度：20 mm
**承重：250 g
电动XY平台范围：12 mm × 12 mm
物镜：10×，NA 0.25
视野：1.4 mm × 0.8 mm
分辨率：1920 × 1080
尺寸：232 × 220 × 246 mm
重量：约4 kg
通信接口：USB
操作系统：Windows 10/11
ICSPI REDUX 原子力显微镜通过芯片级AFM技术与高度自动化设计，实现了纳米级表征设备从“专家工具”向“通用工具”的转变。其在操作便捷性、数据获取效率及综合成本控制方面表现突出，是当前台式原子力显微镜领域中兼具性能与易用性的代表产品之一。
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第三方检测机构
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