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第三方检测用扫描电镜能谱分析设备
第三方检测用扫描电镜能谱分析设备

参考价格

面议

型号

第三方检测用Phenom ProX G7

品牌

飞纳

产地

荷兰

样本

暂无
复纳科学仪器(上海)有限公司

金牌会员

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第9年

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代理商

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核心参数
  • 探测器:

    背散射探测器、能谱探测器
  • 加速电压:

    基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
  • 电子枪:

    CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时
  • 电子光学放大:

    350,000 X
  • 光学放大:

    27 - 160 X
  • 分辨率:

    优于 6 nm
标签:

复纳科技扫描电镜

复纳科技第三方检测用Phenom ProX G7

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产品简介


第三方检测用扫描电镜能谱分析设备 Phenom ProX G7 是飞纳推出的台式扫描电镜-能谱一体化设备,将扫描电镜成像与能谱元素分析能力集成于一台桌面级设备中。电子光学放大倍数可达 350,000 X,分辨率优于 6 nm,采用 CeB6 灯丝(使用寿命 >3,000 小时),适用于颗粒形貌观察、异物分析、缺陷区域定位及材料微区成分分析,满足高校实验室、企业研发中心、第三方检测机构及工业质检等多种场景需求。


性能特点


  • 电镜+能谱一体化:扫描电镜成像与能谱分析集成于同一台设备,无需切换即可完成形貌观察与元素分析

  • 高分辨率成像:分辨率优于 6 nm,电子光学放大倍数**可达 350,000 X,满足常规材料微观形貌观察需求

  • CeB6 灯丝:使用寿命优于 3,000 小时,维护成本低,长期运行稳定

  • 双真空模式:支持高真空与低真空模式切换,适配不同样品类型,导电样品与非导电样品均可直接检测

  • 多探测器配置:标配背散射探测器(BSD)与能谱探测器(EDS),可选配二次电子探测器(SED)

  • 光学导航相机:彩色光学导航,便于快速定位目标区域

  • 桌面级设计:体积紧凑,无需专用样品制备室,操作简便


技术参数


参数项规格
电子光学放大倍数350,000 X
光学放大倍数27 - 160 X
分辨率优于 6 nm
电子枪CeB6 灯丝,寿命 >3,000 h
加速电压(基本模式)2 kV / 5 kV / 10 kV / 15 kV / 20 kV
加速电压(高级模式)4.8 kV - 20.5 kV 连续可调
真空模式高真空 / 低真空
标配探测器背散射探测器(BSD)、能谱探测器(EDS)
可选探测器二次电子探测器(SED)
光学导航相机彩色



应用领域


  • 第三方检测:来料检验、样品送检中的形貌与成分分析

  • 颗粒与异物分析:颗粒形貌表征、异物溯源与缺陷区域定位

  • 材料研发:新材料微观结构观察与微区元素成分分析

  • 失效分析:产品失效原因追溯,定位断裂、腐蚀、污染等缺陷区域

  • 质量控制:生产线样品抽检,批次一致性验证


常见问题


Q1:该设备适合做哪些分析?


A:适用于材料微观形貌观察、微区元素分析、颗粒/异物分析、失效分析及研发质检等场景。


Q2:能否进行元素分析?


A:可以。该设备为电镜能谱一体机,标配能谱探测器,可对颗粒、异物或指定局部区域进行元素成分分析。


Q3:如何获取报价?


A:产品价格根据具体配置、探测器选型及应用需求确定,欢迎通过平台询价入口提交需求,获取官方选型建议,并可预约试样体验。


创新点

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