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科研实验室高分辨SEM观察用飞纳
科研实验室高分辨SEM观察用飞纳

参考价格

面议

型号

科研实验室Phenom Pharos G2

品牌

飞纳

产地

荷兰

样本

暂无
复纳科学仪器(上海)有限公司

金牌会员

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第9年

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核心参数
  • 分辨率:

    优于 1.5 nm
  • 探测器:

    背散射探测器、二次电子探测器
  • 加速电压:

    1 kV - 20 kV 连续可调
  • 电子枪:

    肖特基热场发射电子枪
  • 电子光学放大:

    2,000,000 X
  • 光学放大:

    27 - 160 X
标签:

复纳科技扫描电镜

复纳科技科研实验室Phenom Pharos G2

国产扫描电镜

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科研实验室高分辨SEM观察用Phenom Pharos G2 是飞纳推出的台式场发射扫描电镜,可用于科研实验室高分辨SEM观察,适合多类材料的微纳形貌表征。

采用肖特基热场发射电子枪,电子光学放大倍数可达 2,000,000 X,分辨率优于 1.5 nm,适合对高分辨形貌、精细结构和微纳尺度特征有要求的研发与检测场景。具备台式化设计、低/中/高三种真空模式、背散射探测器、二次电子探测器,并可根据需求选配能谱探测器。


核心指标

性能项数值
电子源肖特基热场发射电子枪
光学放大倍率27 X – 160 X
电子光学放大倍率2,000,000 X
极限分辨<1.5 nm
加速电压调节1 kV – 20 kV 连续可调
真空策略低 / 中 / 高 三档
导航辅助彩色光学相机
标准探头背散射探测器、二次电子探测器
扩展探头能谱探测器

技术特性

1. 肖特基热场发射电子枪,适合高分辨SEM成像。

2. 电子光学放大倍数可达 2,000,000 X。

3. 分辨率优于 1.5 nm,适合微纳结构观察。

4. 加速电压 1 kV - 20 kV 连续可调。

5. 支持低/中/高三种真空模式。

6. 标配背散射探测器和二次电子探测器,可选配能谱探测器。

7. 台式设计,适合科研、研发和检测实验室部署。

表征对象

纳米材质 / 半导体 / 碳基材料 / 催化材料 / 陶瓷 / 锂电材料 / 光伏材料 / 其他多类型样品


分析内容

微纳形貌表征 / 精细结构解析 / 表面形貌溯源 / 微区元素定性(需增配能谱探测器)


常见问题:

1. 这款设备适合哪些应用?适合纳米材料、半导体、碳材料、催化剂、陶瓷、锂电材料、光伏材料等高分辨形貌观察场景。

2. 是否可以做元素分析?设备可根据需求选配能谱探测器,用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。

3. 价格是多少?价格根据配置、探测器选项和应用需求确定,可通过平台询价入口获取官方选型建议,并预约试样。

 

如需了解科研实验室高分辨SEM观察用 Phenom Pharos G2 在高分辨SEM中的配置方案、应用资料或报价信息,可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求,获取官方选型建议,并预约试样。


获取方案

提交样品类型与表征需求至粉体网平台询价入口,获取 科研实验室高分辨SEM观察用Phenom Pharos G2 在微纳尺度形貌分析方向的官方配置建议与试样安排。


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