参考价格
面议型号
地质矿物颗粒成分分析用Phenom ProX G7品牌
产地
荷兰样本
暂无探测器：
背散射探测器、能谱探测器加速电压：
基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV电子枪：
CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时电子光学放大：
350,000 X光学放大：
27 - 160 X分辨率：
优于 6 nm复纳科技扫描电镜
复纳科技 地质矿物颗粒成分分析用Phenom ProX G7
国产扫描电镜
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地质矿物颗粒成分分析用飞纳台式扫描电镜Phenom ProX G7 是飞纳推出的台式扫描电镜能谱一体机，可用于地质矿物颗粒成分分析，帮助观察矿物形貌并辅助判断元素组成。
| 参数 | 指标 |
|---|---|
| 电子枪 | CeB₆ 灯丝（寿命＞3000 h） |
| 光学放大倍率 | 27–160 X |
| 电子光学放大倍率 | 350,000 X |
| 分辨能力 | 优于 6 nm |
| 加速电压（基础档） | 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV |
| 加速电压（连续档） | 4.8 kV–20.5 kV 连续可调 |
产品特点：
1. 台式扫描电镜与能谱分析能力结合。
2. 电子光学放大倍数可达 350,000 X。
3. 分辨率优于 6 nm，适合常规材料微观形貌观察。
4. CeB6 灯丝寿命优于 3000 小时。
5. 支持高/低真空模式。
6. 标配背散射探测器和能谱探测器，可选配二次电子探测器。
7. 适合颗粒、异物、缺陷区域和材料微区成分分析。
8. 支持官方选型咨询，可预约试样。
高校实验室
企业研发中心
第三方检测机构
工业质检环节
| 参数 | 指标 |
|---|---|
| 真空环境 | 高真空 / 低真空 |
| 标准探测单元 | 背散射探测器、能谱探测器 |
| 扩展探测单元 | 二次电子探测器 |
地质矿物颗粒成分表征
岩石样品微观形貌检视
矿物材质研发检测
科研实验室日常分析
第三方机构检测服务
Q1：该设备主要服务于哪些分析需求？A：材质形貌检视、微区元素判定、颗粒异物解析、失效溯源及研发质检。
Q2：能否实现元素判定？A：可以。该产品为电镜能谱一体化设备，可对颗粒、异物或局部微区的元素组成进行分析。
Q3：设备报价如何确定？A：*终价格与配置方案、探测单元选型及应用需求挂钩。可通过平台询价通道提交需求，获取针对性选型建议并安排试样。
如需了解 地质矿物颗粒成分分析用飞纳台式扫描电镜Phenom ProX G7 在地质矿物成分中的配置方案、应用资料或报价信息，可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求，获取官方选型建议，并预约试样。
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