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高分子材料形貌分析用飞纳台式扫描电镜
高分子材料形貌分析用飞纳台式扫描电镜

参考价格

面议

型号

高分子材料形貌分析用Phenom XL G3

品牌

飞纳

产地

荷兰

样本

暂无
复纳科学仪器(上海)有限公司

金牌会员

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第9年

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核心参数
  • 探测器:

    背散射探测器
  • 加速电压:

    基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
  • 电子枪:

    CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时
  • 电子光学放大:

    200,000 X
  • 光学放大:

    3-19X
  • 分辨率:

    优于 8 nm
标签:

复纳科技扫描电镜

复纳科技高分子材料形貌分析用Phenom XL G3

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Phenom XL G3 大仓室台式扫描电镜


设备信息

项目内容
制造商飞纳(Phenom)
产品型号Phenom XL G3
产品全称XL 大仓室自动化电镜
设备类型大仓室台式扫描电镜
应用方向高分子材料形貌表征、塑料断面观测、橡胶填料分布检测、薄膜瑕疵识别

技术规格

电子光学系统

参数指标
电子枪CeB₆ 灯丝
灯丝寿命优于 3000 小时
光学放大倍率3–19 X
电子光学放大倍率200,000 X
分辨能力优于 8 nm
加速电压(基础档)2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
加速电压(连续档)4.8 kV–20.5 kV 连续可调

样品系统


参数指标
**样品规格100 × 100 mm
样品装载量36 个(同步)
单次成像耗时约 40 秒

真空与探测


参数指标
真空环境低 / 中 / 高 三档
光学导航彩色相机
标准探测单元背散射探测器
扩展探测单元二次电子探测器、能谱探测器

功能特性

  1. 大仓室样品台,**兼容 100 × 100 mm 样品,可同步装载 36 个样品

  2. 单次成像耗时约 40 秒,满足多样品筛查及日常分析需求

  3. 电子光学放大倍率 200,000 X,分辨能力优于 8 nm

  4. CeB₆ 灯丝,持续运行寿命优于 3000 小时

  5. 三档真空环境,适配导电及非导电类高分子材质

  6. 标准配置背散射探测器,可扩展二次电子探测器及能谱探测器

  7. 台式结构,无需专用场地,实验室常规工位即可部署

  8. 提供选型咨询及试样预约服务


适用材质

  • 塑料及塑料制品

  • 橡胶及弹性体

  • 薄膜及涂层材质

  • 其他高分子材质


典型用途

  • 塑料断面组织形貌观测

  • 橡胶填料分散状态表征

  • 薄膜表面瑕疵识别

  • 高分子材料研发检测

  • 来料及成品质量管控


常见疑问

Q1:该设备适用于哪些样品类型?A:适用于较大规格样品、多样品批量筛查及常规材质形貌观测。

Q2:能否进行成分分析?A:可按需扩展能谱探测器,用于颗粒、异物或局部微区的成分判定。

Q3:设备价格如何确定?A:报价取决于主机配置、探测单元选型、应用需求及服务方案。可通过平台询价通道提交需求,获取官方选型建议并预约试样。


咨询通道

如需了解 Phenom XL G3 在高分子材料形貌表征中的详细配置、应用资料或报价信息,可通过粉体网平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求,获取官方选型建议并预约试样。


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