Phenom XL G3 大仓室台式扫描电镜

产品概述

XL 大仓室自动化电镜（型号：Phenom XL G3）由飞纳研发，归属大仓室台式扫描电镜产品线。该设备针对合金材料断面表征需求设计，可对断面组织形貌、裂纹扩展路径及失效特征进行微观尺度分析。

技术参数：

产品型号：Phenom XL G3

产品全称：XL 大仓室自动化电镜

产品类型：大仓室台式扫描电镜

光学放大：3 - 19 X

电子光学放大：200,000 X

分辨率：优于 8 nm

电子枪：CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时

光学导航相机：彩色

平均成像时间：约 40 秒

**样品尺寸：100 x 100 mm

样品承载：可同时容纳 36 个样品

加速电压：基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV

高级模式：4.8 kV - 20.5 kV 连续可调

真空模式：低 / 中 / 高三种模式

探测器：背散射探测器

可选探测器：二次电子探测器、能谱探测器

产品特性

1. 仓室容量：100 mm × 100 mm 样品台，满足大尺寸及批量检测需求

2. 成像效率：单次采集周期约 40 秒，适配日常检测节奏

3. 空间分辨：200,000 X 电子光学放大，＜8 nm 分辨能力，CeB₆ 源稳定运行超 3000 小时

4. 电压覆盖：五档固定输出（基础模式）+ 无级连续调节（4.8–20.5 kV，高级模式），覆盖多类样品荷电控制需求

5. 真空适配：三档真空环境切换，兼容导电、半导电及非导电材质

6. 探测配置：背散射探测器为出厂标配；二次电子探测器、能谱探测器按需增配

7. 部署形式：台式结构，实验室常规工位即可安装

8. 服务支持：提供选型咨询及试样预约通道

目标场景

合金断面组织分析 / 金属研发阶段表征 / 断口失效溯源 / 材料质控环节

典型咨询

Q：可检测哪些对象？A：大尺寸块状样品、多批次并行筛查及常规材料表面形貌观察。

Q：能否实现成分分析？A：增配能谱探测器后，可对微区颗粒、外来异物或特定位置的元素组成进行定性分析。

Q：采购价格如何确定？A：*终报价与主机配置、探测单元选型、应用场景及售后服务方案挂钩。可通过平台留言通道提交需求，获取针对性选型建议并安排试样。

获取方案

如需 Phenom XL G3 在合金断面表征方向的技术资料、配置清单或商务报价，可通过平台询价入口提交样品信息与测试需求，获取官方选型建议并预约试样。