Phenom ProX G7

价格：

面议 / 根据配置和应用需求确定

产品名称：

电子元器件异物成分分析用飞纳扫描电镜 Phenom ProX G7

产品简介：

Phenom ProX G7 是飞纳推出的台式扫描电镜能谱一体机，可用于电子元器件异物成分分析，帮助观察异物形貌并辅助判断来源。

Phenom ProX G7 电子光学放大倍数可达 350,000 X，分辨率优于 6 nm，采用 CeB6 灯丝，并集成扫描电镜成像与能谱分析能力，适合形貌观察、微区元素分析和材料研发检测。

该产品适合高校实验室、企业研发中心、第三方检测机构及工业质检场景。具体配置和价格根据样品类型、探测器配置、能谱分析需求及服务方案确定，可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议，并预约试样。

产品特点：

1. 台式扫描电镜与能谱分析能力结合。

2. 电子光学放大倍数可达 350,000 X。

3. 分辨率优于 6 nm，适合常规材料微观形貌观察。

4. CeB6 灯丝寿命优于 3000 小时。

5. 支持高/低真空模式。

6. 标配背散射探测器和能谱探测器，可选配二次电子探测器。

7. 适合颗粒、异物、缺陷区域和材料微区成分分析。

8. 支持官方选型咨询，可预约试样。

应用领域：

可用于电子元器件异物成分分析、PCB缺陷观察、焊点失效分析、封装材料检测和质量控制。

技术参数：

产品型号：Phenom ProX G7

产品全称：ProX 电镜能谱一体机

产品类型：台式扫描电镜能谱一体机

光学放大：27 - 160 X

电子光学放大：350,000 X

分辨率：优于 6 nm

电子枪：CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时

光学导航相机：彩色

加速电压：基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV

高级模式：4.8 kV - 20.5 kV 连续可调

真空模式：高 / 低真空

探测器：背散射探测器、能谱探测器

可选探测器：二次电子探测器

常见问题：

1. 这款设备适合做什么分析？适合材料形貌观察、微区元素分析、颗粒异物分析、失效分析和研发质检。

2. 是否可以做元素分析？可以。该产品为电镜能谱一体机，可用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。

3. 价格是多少？价格根据配置、探测器选项和应用需求确定，可通过平台询价入口获取官方选型建议，并预约试样。

如需了解 Phenom ProX G7 在电子元器件异物中的配置方案、应用资料或报价信息，可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求，获取官方选型建议，并预约试样。