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| 光学元件激光损伤检测及预处理设备 | |
| 型号 | LDT-2000-C |
| 测量波长 | 193nm、355nm、532nm、1064nm或其他客户定制波长 |
| 激光脉宽 | ~10ns |
| **测试激光通量 | ≥100J/cm² |
| 损伤点识别率 | ≥95% |
| 样品尺寸 | ≤150mm x 150mm(L x W)或客户定制 |
光学元件激光损伤检测及预处理设备(LDT-2000-C)，主要用于测试光学元件的激光损伤阈值以保证放置于光路中的各类光学元件的强激光负载性能，应用范围包括光学元件激光损伤测试、体材料激光损伤测试镀膜工艺优化等。
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