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平面元件缺陷检测设备
产品介绍
平面元件缺陷检测设备(AOSI-4000F)，主要用于平面光学元件的全自动外观质量检测，该设备自动化程度高、批量上料、自动传送、智能检测，根据检测结果智能分选，并生成每个元件的检测报告。
设备可生成检测日志，按照不同的时问周期，根据元件检测数量、缺陷检测类型比例等条件生成检测日志观察生产良率变化，对生产工艺改进做出指导。
| 平面元件缺陷检测设备 | |
| 型号 | AOSI-4000F |
| 样品类型 | 平面元件 |
| 典型样品尺寸[1] | Ф5mm-Ф30mm |
| **检测效率 | 2400 pcs/h(@Ф10mm，40/20) |
| 上下料方式 | 全自动上下料，接口可定制 |
| 典型检测标准 [2] | 美军标MIL-PRF-13830B |
| 额定功率 | 6.5KW |
| 供电电源 | 220V，50Hz |
| 压缩空气 | 0.6MPa-0.8MPa，300L/min |
| 设备尺寸[3] | 1800mm x 1500mm x 2080mm |
| 设备重量 | 850kg |
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