参考价格
面议型号
高分子材料微区成分分析Phenom ProX G7品牌
飞纳产地
荷兰样本
暂无分辨率：
优于 6 nm探测器：
背散射探测器、能谱探测器加速电压：
基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV电子枪：
CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时电子光学放大：
350,000 X光学放大：
27 - 160 X复纳科技扫描电镜
复纳科技高分子材料微区成分分析Phenom ProX G7
国产扫描电镜
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Phenom ProX G7 是飞纳推出的台式扫描电镜能谱一体机，集扫描电镜形貌观察与能谱元素分析功能于一体，可用于高分子材料微区成分分析、填料分布观察、颗粒识别以及缺陷区域检测。
在高分子材料研发和质量控制过程中，填料分散状态、异物来源、断面结构以及局部区域成分差异会影响材料性能。Phenom ProX G7 可通过扫描电镜获取材料表面及断面的微观形貌信息，并结合能谱分析对目标区域进行元素检测，为材料改性研究、失效分析和工艺优化提供数据支持。
设备电子光学放大倍数**可达 350,000 X，分辨率优于 6 nm，采用 CeB6 灯丝电子源，能够满足常规材料微观结构观察及微区成分分析需求。
Phenom ProX G7 适用于高校实验室、企业研发中心、第三方检测机构以及工业质量检测场景。设备支持高、低真空模式，标配背散射探测器和能谱探测器，并可选配二次电子探测器，实现形貌与元素信息综合分析。
设备将扫描电镜成像与能谱分析功能结合，可在观察材料微观形貌的同时，对颗粒、填料、异物及缺陷区域进行元素分析。
电子光学放大倍数**可达 350,000 X，分辨率优于 6 nm，可用于塑料、橡胶、薄膜等高分子材料断面结构及表面特征观察。
采用 CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时，可满足实验室长期样品检测需求。
支持高真空和低真空模式，可根据样品性质选择合适的观察条件，适用于不同类型高分子及复合材料样品。
标配背散射探测器和能谱探测器，可针对颗粒、异物、填料以及异常区域开展元素组成分析。
设备体积紧凑，适合高校科研实验室、企业研发部门及检测机构进行材料分析和质量控制。
Phenom ProX G7 可应用于以下领域：
高分子材料微区成分分析
塑料材料断面观察
橡胶填料分布分析
复合材料结构研究
薄膜材料缺陷检测
颗粒及异物分析
材料失效分析
工业研发与质量控制
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 产品型号 | Phenom ProX G7 |
| 产品全称 | ProX 电镜能谱一体机 |
| 产品类型 | 台式扫描电镜能谱一体机 |
| 光学放大 | 27 - 160 X |
| 电子光学放大 | 350,000 X |
| 分辨率 | 优于 6 nm |
| 电子枪 | CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时 |
| 光学导航相机 | 彩色 |
| 加速电压（基本模式） | 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV |
| 加速电压（高级模式） | 4.8 kV - 20.5 kV 连续可调 |
| 真空模式 | 高 / 低真空 |
| 标配探测器 | 背散射探测器、能谱探测器 |
| 可选探测器 | 二次电子探测器 |
设备适用于塑料、橡胶、复合材料、薄膜材料等高分子样品，可用于观察材料断面结构、填料分布、颗粒状态及缺陷区域。
可以。Phenom ProX G7 集成能谱探测功能，可对颗粒、异物、填料以及局部区域进行元素组成分析，辅助判断材料成分差异。
设备可用于材料形貌观察、微区元素分析、颗粒异物分析、失效分析以及研发质量检测等应用。
设备价格根据具体配置、探测器选项、能谱分析需求以及服务方案确定。用户可通过平台询价入口提交样品类型和测试需求，获取对应配置建议。
如需了解 Phenom ProX G7 在高分子材料微区成分分析中的应用方案、测试案例或设备配置，可通过平台留言提交样品信息与分析需求，获取进一步产品资料。
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