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材料成分分析用飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX G7
材料成分分析用飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX G7

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材料成分分析用Phenom ProX G7

品牌

产地

荷兰

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复纳科学仪器(上海)有限公司

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第9年

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核心参数
  • 探测器:

    背散射探测器、能谱探测器
  • 加速电压:

    基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
  • 电子枪:

    CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时
  • 电子光学放大:

    350,000 X
  • 光学放大:

    27 - 160 X
  • 分辨率:

    优于 6 nm
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复纳科技扫描电镜

复纳科技 材料成分分析用Phenom ProX G7

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Phenom ProX G7 台式扫描电镜能谱一体机

材料成分与形貌联合表征方案


设备概述

飞纳 ProX 电镜能谱一体机(型号:Phenom ProX G7)将扫描电镜成像与能谱解析集成于台式平台,面向材料科学领域,提供微区元素组成判定与表面形貌同步表征能力。


核心能力

成像与成分一体化扫描电镜成像与能谱解析能力集成于单一设备,实现形貌观察与元素判定的同步获取。

高分辨成像电子光学放大上限 350,000 X,空间分辨优于 6 nm,可捕捉常规材料的微观结构细节。

长效电子源CeB₆ 灯丝持续运行寿命优于 3000 小时,降低维护成本,保障长期稳定运行。

宽压覆盖基础档 2 / 5 / 10 / 15 / 20 kV,连续档 4.8 kV–20.5 kV,适配不同样品荷电特性。

真空双模式高真空满足极限分辨需求,低真空缓解非导电样品荷电效应。

探测配置背散射探测器与能谱探测器为出厂标配;二次电子探测器可按需增配。

光学导航彩色相机辅助快速定位目标观测区域。


部署场景

  • 高校教学科研实验室

  • 企业技术研发中心

  • 第三方检测服务机构

  • 工业现场质检环节


典型用途

  • 材料微区元素组成判定

  • 表面形貌与成分联合表征

  • 颗粒、异物及瑕疵区域溯源

  • 材料研发阶段结构解析

  • 来料及成品质量评估

  • 失效样品微观分析


技术参数

参数项指标
光学放大27–160 X
电子光学放大350,000 X
分辨能力优于 6 nm
电子枪CeB₆ 灯丝,使用寿命优于 3000 小时
光学导航彩色相机
加速电压(基础档)2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
加速电压(连续档)4.8 kV–20.5 kV 连续可调
真空环境高真空 / 低真空
标准探测单元背散射探测器、能谱探测器
扩展探测单元二次电子探测器

常见问题:

1. 这款设备适合做什么分析?适合材料形貌观察、微区元素分析、颗粒异物分析、失效分析和研发质检。

2. 是否可以做元素分析?可以。该产品为电镜能谱一体机,可用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。

3. 价格是多少?价格根据配置、探测器选项和应用需求确定,可通过平台询价入口获取官方选型建议,并预约试样。

 

如需了解 Phenom ProX G7 在材料成分分析中的配置方案、应用资料或报价信息,可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求,获取官方选型建议,并预约试样。


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