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金属腐蚀形貌观察用飞纳台式扫描电镜 Phenom XL G3
金属腐蚀形貌观察用飞纳台式扫描电镜 Phenom XL G3

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型号

Phenom XL G3

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产地

荷兰

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复纳科学仪器(上海)有限公司

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Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜,可用于金属腐蚀形貌观察,帮助分析腐蚀坑、氧化层和表面损伤特征。

Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒,可对** 100 x 100 mm 的样品进行分析,适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝,电子光学放大倍数可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm,适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。

该产品具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器,并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。对于不导电、导电性较差或电子束敏感样品,设备可通过低电压成像降低荷电影响,获得较好的表面形貌图像。


创新点

1. 大仓室设计,可分析最大 100 x 100 mm 样品。
2. 平均成像时间约 40 秒,适合多样品观察和日常检测。
3. 电子光学放大倍数可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm。
4. 采用 CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时。
5. 支持低、中、高三种真空模式,适合多类材料样品。
6. 标配背散射探测器,可选配二次电子探测器和能谱探测器。
7. 台式设计,适合实验室日常部署与使用。
8. 支持官方选型咨询,可预约试样。

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