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超硬材料微观形貌分析用飞纳台式场发射SEM Phenom Pharos G2
超硬材料微观形貌分析用飞纳台式场发射SEM Phenom Pharos G2

参考价格

面议

型号

Phenom Pharos G2

品牌

飞纳

产地

荷兰

样本

暂无
复纳科学仪器(上海)有限公司

金牌会员

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第9年

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Phenom Pharos G2 台式场发射扫描电镜

台式场发射扫描电镜 | 超硬材料微观表征方案


设备定位

飞纳 Pharos 系列台式场发射电镜(Phenom Pharos G2)专为超硬材料领域设计,服务于金刚石、硬质合金等样品的表面与断面结构分析。

技术参数:

产品型号:Phenom Pharos G2

产品全称:Pharos 台式场发射电镜

产品类型:台式场发射扫描电镜

光学放大:27 - 160 X

电子光学放大:2,000,000 X

分辨率:优于 1.5 nm

电子枪:肖特基热场发射电子枪

光学导航相机:彩色

加速电压:1 kV - 20 kV 连续可调

真空模式:低 / 中 / 高三种模式

探测器:背散射探测器、二次电子探测器

可选探测器:能谱探测器

技术亮点

电子源肖特基热场发射电子枪,为高分辨成像提供稳定电子束流。

放大与分辨电子光学系统** 2,000,000 X 放大倍率,极限分辨突破 1.5 nm,可捕捉微纳尺度结构细节。

电压灵活度1 kV 至 20 kV 连续可调,低电压下减少荷电效应,高电压下提升穿透深度,适配超硬材料等难导电样品。

真空策略三档真空环境:低真空模式缓解非导电样品荷电;中真空平衡成像质量与效率;高真空满足高分辨需求。

探测组合背散射探测器提供成分衬度,二次电子探测器呈现表面形貌;增配能谱探测器后实现微区元素定性。

部署便捷性台式机身,无需专用防震地基,常规实验室环境即可运行。


适用方向

金刚石晶粒形貌 / 硬质合金断面组织 / 超硬涂层截面结构 / 磨料磨损形貌 / 材料研发与品控


用户问答

样品范围?纳米材料、半导体、碳基材料、催化材料、陶瓷、锂电材料、光伏材料及各类超硬材料的高分辨形貌分析。

元素分析能力?选配能谱探测器后,可对颗粒、异物或微区进行元素组成判定。

报价方式?依配置组合、探测单元及应用场景综合评估。通过平台询价通道提交需求,获取定制化选型方案并预约试样。


联系通道

提交样品类型与测试需求至平台询价/留言入口,获取 Phenom Pharos G2 在超硬材料表征方向的官方配置建议与试样安排。

创新点

1.肖特基热场发射电子枪,适合高分辨SEM成像。
2.电子光学放大倍数可达 2,000,000 X。
3.分辨率优于 1.5 nm,适合微纳结构观察。
4.加速电压 1 kV - 20 kV 连续可调。
5.支持低、中、高三种真空模式。
6.标配背散射探测器和二次电子探测器,可选配能谱探测器。
7.台式设计,适合科研、研发和检测实验室部署。
8.支持官方选型咨询,可预约试样。

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