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超硬材料微观形貌分析用飞纳台式场发射SEM Phenom Pharos G2
超硬材料微观形貌分析用飞纳台式场发射SEM Phenom Pharos G2

参考价格

面议

型号

Phenom Pharos G2

品牌

飞纳

产地

荷兰

样本

暂无
复纳科学仪器(上海)有限公司

金牌会员

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Phenom Pharos G2 是飞纳推出的台式场发射扫描电镜,可用于纳米材料高分辨成像、半导体表面缺陷观察、碳材料微观结构分析等场景。该设备适合高校科研实验室、企业研发部门、第三方检测机构、半导体及纳米材料相关用户使用,可帮助用户观察样品表面微观结构、纳米颗粒形貌、孔隙特征、缺陷区域及精细材料结构。

Phenom Pharos G2 采用肖特基热场发射电子枪,电子光学大倍数可达 2,000,000 X,分辨率优于 1.5 nm,适合对高分辨形貌、精细结构和微纳尺度特征有要求的研发与检测场景。

该产品具备台式化设计、低/中/高三种真空模式、背散射探测器、二次电子探测器,并可根据需求选配能谱探测器。具体配置和价格根据样品类型、成像需求及功能配置确定,可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议,并预约试样。


创新点

1.肖特基热场发射电子枪,适合高分辨SEM成像。
2.电子光学放大倍数可达 2,000,000 X。
3.分辨率优于 1.5 nm,适合微纳结构观察。
4.加速电压 1 kV - 20 kV 连续可调。
5.支持低、中、高三种真空模式。
6.标配背散射探测器和二次电子探测器,可选配能谱探测器。
7.台式设计,适合科研、研发和检测实验室部署。
8.支持官方选型咨询,可预约试样。

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