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对多通道功率驱动照明和OLED寿命测量进行了优化。
M6000 PLUS OLED寿命测试系统是用来测试OLED材料在高、低温之间承受持续电源或环境变化的能力，从而了解在指定时间内降解引起的化学变化或物理损伤。适用于OLED器件，Panel，模组；寿命测试结果可作为改进和提高OLED材料质量的参考或依据。
-相对寿命测试
-相对I-V-L试验
-老化测试
-多电流/光电流范围
-方序列运算
-利用温/湿控制腔室进行加速测试
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