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日本样本
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INSPECTRA
国产半导体行业专用仪器
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光学系统阵容多样：可提供 BF（明场）/DF（暗场）/DIC（微分干涉对比）/ 特殊光学系统。
检测工具：具备 AI-ADC 功能、多种数据输入 / 输出接口、检测结果分析系统及配方共享功能。
特殊晶圆适配：支持薄晶圆 / 翘曲晶圆检测，可适配面板检测。
类型：硅晶圆、化合物晶圆、玻璃等
目标缺陷尺寸：>0.5 微米
检测 throughput（产能）：>200 片 / 小时
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