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凡远光电逸出功能谱仪
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逸出功能谱仪--**
逸出功能谱仪主要参数
测量原理 | PYS | ||
测量范围（eV） | 3.40 - 7.50 | 4.00 - 9.54 | |
*小测量间隔（eV） | 0.01 | ||
重复性（标准偏差） | 0.02 | 0.015 | |
热机时间（ Min） | 25 | ||
光斑尺寸（mm） | 1×2 | ||
可测样品尺寸 | W60×H50 mm（Max） D10 mm（Max） | ||
测量环境 | 空气、氮气、真空 | ||
可测样品类型 | 粉末、薄膜、金属材料、半导体材料、ITO、FTO、OLED有机光电材料、有机太阳能材料、钙钛矿材料、富勒烯/石墨烯衍生物、碳纳米材料、锂电池材料等。 | 除IPS-3可测样品范围外，还包括：TCNQ衍生物材料、QD光电材料、无机太阳电池材料、金属氧化物/硫化物材料、水氧敏感型材料等。 | |
逸出功能谱仪-实测案例
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