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TESCAN TIMA-X FEG(GM) 综合矿物分析仪
TESCAN TIMA-X FEG(GM) 综合矿物分析仪

参考价格

500万以上

型号

TESCAN TIMA-X FEG(GM)

品牌

产地

欧洲

样本

暂无
泰思肯贸易(上海)有限公司.

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第6年

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二次电子图象分辨率1.2nm @ 30keV放大倍数1~1,000,000 x
背散射电子图像分辨率2.0nm @ 15keV加速电压0.2~30 kV
产地属性欧洲仪器种类场发射
价格范围500万-700万

TESCAN综合矿物分析仪(TIMA)是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜,适用于采矿和矿物加工行业。TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行自动矿产丰度分析、粒度解离分析、矿物组合分析和颗粒尺寸分析。

TIMA的应用范围很宽,包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了****的数据采集速度,进而得到快速、准确和可靠的结果。


TIMA硬件

TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场发射或者VEGA钨灯丝扫描电子显微镜。MIRA镜筒的特殊设计(电子枪的恒真空与隔绝阀)提高了发射的稳定性和钨灯丝的使用寿命。该系统提供高真空模式为标准,低真空模式为选配。

大 样品室、由计算机控制的超快样品台、矿物样品支持器的特殊设计。样品台可以同时容纳7块直径**为30mm的样品。样品台内可放入直径25 mm至32 mm的样品。样品台有EDX/BSE校准标准、铂Faraday筒(BSE信号校准)与锰、 铜、 石英、碳和金元素(系统性能检查)。标准校准的元素可以根据客户要求定制。



配件:


  • 二次电子探头

  • 背散射电子探头

  • 探针电流测量

  • 压差式防碰撞报警装置

  • 可观察样品室内部的红外线摄像头等,各种配件可供选择


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TESCAN TIMA-X FEG(GM) 综合矿物分析仪信息由泰思肯贸易(上海)有限公司.为您提供,如您想了解更多关于TESCAN TIMA-X FEG(GM) 综合矿物分析仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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