晶圆/硅片划遗线检测/统计slip finder广泛应用于各大半导体FAB，主要用于如下一些热处理工艺后的晶圆/硅片：

Polishing， Epitaxy， RTP， Diffusion， Incoming Inspection， SOI， Anneal

部分客户参考如下：

国内主要大客户有如：中芯国际，先进半导体，华宏半导体，成都德州仪器等等。

MEMC

S.E.H

SUMCO

IBM

KOMATSU

LG

OKMETIC

MAXIM

PHILIPS

MOTOROLA

DISCO

MITSUBISHI

TOSHIBA

SAMSUNG

SONY

ST MICRO

TEXAS INSTRUMENTS

HITACHI

IBIS

...

中国地区销售服务商

美国赛伦科技上海办事处

吴惟雨

138 1791 5874

caven.wu@sar************