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Exicor GEN 系列大尺寸面板双折射测量系统
Exicor GEN 系列大尺寸面板双折射测量系统

参考价格

1万元以下

型号

GEN2X/GEN5/GEN6 等全系列

品牌

产地

美国

样本

暂无
深圳市秋山贸易有限公司

高级会员

|

第9年

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核心参数
标签:

Sreen其他

SreenGEN2X/GEN5/GEN6 等全系列

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Exicor® GEN 系列是美国 Hinds Instruments 推出的大尺寸面板双折射测量系统,专为 LCD 显示面板、玻璃基板、补偿膜等大规格材料的应力与双折射检测设计,是显示面板制造、光学材料研发领域的核心检测设备。

系统基于核心 Exicor 低级双折射测量技术与精密自动化运动控制,搭载 PEMLabs™光弹性调制器与 Signaloc™锁相放大器,实现 0.001nm 延迟分辨率、±0.008nm 超高重复性,0.01° 角分辨率,可精准测量大尺寸面板全域双折射与应力分布。标配高张力钢丝网样品台,**化可测量区域,大幅减少样品下垂与弯曲;可选 Scan In Motion™高速扫描技术,*快仅需 12 分钟即可完成全面板表征,检测效率行业**。

设备支持** 1150mm×1375mm 超大扫描区域,可扩展至更大尺寸,适配第 5 代 + 显示面板、商业窗玻璃、片材等多类材料;配套专业分析软件,支持 2D/3D 可视化、厚度 / 翘曲度测量、应力估算等功能,操作直观高效,是显示面板量产线、光学材料实验室的理想检测工具。


创新点

超大尺寸扫描平台,适配大面板检测;高张力钢丝网样品台,防下垂变形;SIM 高速扫描,12 分钟完成全面板表征;亚纳米级超高精度,低双折射检测灵敏;多场景适配,覆盖显示 / 玻璃 / 新材料行业。

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