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透过率测试系统
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产品用途：
T系列透过率测试仪是一款全波长的能够快速测量**透过率的测试仪(IR孔或小孔透过率测量仪)，能实时快速准确地测量各类平面、非平面等光学元件的相对或**透射率，可用于实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、太阳膜、滤光片等平面、光学元件及组合镜头等的检测。
型号/参数 | T-800 | T-1000 | T-1100 |
探测器 | Sony线形CCD阵列 | 面阵CCD | 面阵背照式CCD |
检测范围 | 380-850nm | 380-1000nm | 380-1100nm |
光斑尺寸 | 可调（>=Φ1mm） | 可调（>=Φ1mm） | 可调（>=Φ1mm） |
*小测量孔径 | 2mm | 2mm | 2mm |
信噪比（全信号） | 250：1 | 400:1 | 450:1 |
测量重复性 | <0.6%（400-800nm） | <0.3%（400-800nm） | <0.2%（400-800nm） |
测量准确性 | 0.5% | 0.3% | 0.2% |
检出限 | 0.5% | 0.2% | 0.1% |
单次测量时间 | <1秒 | <1秒 | <1秒 |
操作系统 | Windows 7/8/10 | Windows 7/8/10 | Windows 7/8/10 |
电源 | 220V-50Hz | 220V-50Hz | 220V-50Hz |
配置清单：
1．光谱仪 1台
2．透过率支架 1套
3．高功率卤素光源 1台
4．光纤 2根
5．积分球 1个
6．备用灯泡2个
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