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型号：美国FEI Quattro S
功能：用于材料表面、断面形貌观察，微区成分定性定量分析。
技术参数：
﹡分辨率：1.0nm（30KV, SE）
﹡附件：X射线能谱仪（EDS）、电子背散射衍射仪（EBSD）
﹡放大倍数：300万倍
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