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SOC-210 BDR高精度BRDF测量仪
SOC-210 BDR高精度BRDF测量仪

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SOC-200 是一款高精度科研级BRDF测量系统,可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品的BRDF,实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数(BRDF)制图。BRDF数据可以提供研究材料光学性能所必须的方向反射信息,如表面能量散射的方向和强度。

主要特点:

n 光谱范围:0.35~14μm(基于检测器选项)

n 测量本底噪声:<10-3sr-1

n 可水平装置粉末和液体样品进行测量

n 重复性:<本底噪声的5%

n 全自动测量四个角坐标 (Θ and Φ、入射及反射角)

n 集成电控单元,用于快速处理、显示和存储数据

n 自动带通滤光轮,一次性测量十二种多光谱通道。

n 支持斯特林循环冷却的MCT和InSb检测器,可以无人值守地全自动数据采集,自动切换标样样品测量

测量指标:

n 全半球双向反射分布函数(BRDF)

非偏振BRDF

线性偏振BRDF

n 双向透射分布函数(BTDF)

应用领域:

n 航空工业

n 国防

n 航天

n 行星探测

n 涂层领域

n 光学材料质量控制

技术参数:

项目

参数

测量项目

BRDF、BTDF

光谱范围

0.35~14μm

角度范围

? Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85°

? Incident azimuthal: Phi i Φi = 0° to 350°

? Reflected polar: Theta r Θr = 0° to 85°

? Reflected azimuthal: Phi r Φr = 0° to 360°

角度精度

0.1°

光谱滤波

标准商业化1英寸薄膜带通滤光片

自动化

Θi,Φi,Θr,Φr,光源孔径,滤光轮和样品/参照X极

光源

Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower

检测器

Si, InGaAs, dual InSb/MCT

本底噪声

<10-3sr-1

样品尺寸

直径1英寸圆片、粉末、液体

运行

PC控制,全自动测量

尺寸

53″W x 53″D x 75″H

产地:美国

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