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单片式单基片硅栅阵列（图1）提供独特的高分辨率连续获得超出所能获得的单个光栅的光带宽。这种光栅须不能有移动部件。单片光栅阵列是一致的单次数据采集与许多宽带应用，例如激光诱导击穿光谱，可以帮助系统元件数显著减少。每个阵列由的所有相干在单一基板上形成的多个主光栅。母光栅有连续且轻度重叠的有效光谱范围。此外，在基底的顶部和底部的辅助光栅产生直接的校准的输出区域用于使用一个单一参考波长，如氦氖激光器的波长的光输出。

图2。示意图说明操作的单片光栅阵列光谱仪与2D检测器设置

图3。阵列输出信号检测原理图

校准/准直功能特性

顶部和底部的六个小光栅阵列（参见图1）提供了用于校准的光谱输出，以及协助系统对齐标记，这里的校准标记用于氦氖照明，见示意图4。校准标记提供了两个主要的功能：**，它们表示在主光栅输出的校准部分的开始和结束点。因此，它们允许用户校准波长作为位置的函数的沿着各母光栅色散线 - 注意，校准点所表示的波长范围内是独立的光栅输入角度，使光栅阵列具备各种不同可能的样式。第二，辅助光栅辅助系统调整。当所述检测器表面被适当地定位在焦平面阵列后聚焦镜，两对对准标记设计为一致性和适当远场操作指示。中心两个标记阵列探测器表面使得水平正确的准直方式。

单片硅平面阵列

硅基底具有0.73毫米厚度。基板的高度和宽度公差是0.3毫米。光栅基片：单晶硅。光栅镀膜：铝（其它镀膜类型额外收费）。

Primary Grating	Calibration Markers1	Line/mm	Size	Part Number	Price first 99 units2，3	Unit price 100+
1	381， 522 nm	1788	12.5mm x 12.5mm	SAG-1212A-Al	$96.00 ea.	$25.00 ea.
2	509， 696 nm	1341
3	683， 935 nm	998
4	929， 1271 nm	734
1The calibration markers listed are produced by a HeNe laser incident on the small calibration gratings. Use of a different calibration light source having a different wavelength will produce markers (see Fig. 4) coinciding with different values of the dispersed spectra of the four primary gratings. Using a common input angle for calibration light and signal， the calibration marks delineate spectral output ranges of the primary gratings that are independent of grating input angle.
2 For orders with the total product value below $250.00， a handling charge of $75.00 will be added.
3 Academic discounts are available for eligible institutions. To determine eligibility complete an account application procedure.

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