塞贝克系数/电阻测量系统ZEM-3

——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻

塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。

设备特点：

◆ 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；

◆ 测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；

◆ 欧姆接触自动检测功能（V-I图）；

◆ 可以用适配器来测量薄膜；

◆ 可定制高阻型。

参数配置：

工作原理图：

设备结构：

样品腔部分：

应用方向：

对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。

可选功能：

1. 薄膜测量选件

2. 低温选件（温度范围-100℃到200℃）

3. 高阻选件（**到10MΩ）

附：

热电材料/器件测试设备

用户单位

清华大学

中国科学技术大学

上海交通大学

复旦大学

南方科技大学

武汉理工大学

中国科学院上海硅酸盐研究所

中国科学院大连化学物理研究所