应用：

Material Science

Semiconductor—Ingots/Wafer/Packaging/PCBs/LEDs/Sensor/Other MEMS

Aerospace

Automotive

Pharma & Biotech

技术参数：

德国KSI提供了**的第二代超声波扫描（SAM）， 拥有强大的设计应用团队，在超声波领域超过20年的经验。

其设备主要是针对半导体器件 ，芯片，材料内部的失效分析。其可以检查到材料内部的晶格结构，杂质颗粒，

夹杂物，沉淀物， 内部裂纹，分层缺陷，空洞，气泡及空隙等.

主要特点：

非破坏性、无损伤检测内部结构；

可分层扫描、多层扫描；

实施、直观的图像及分析；

缺陷的测量及百分比的计算；

可显示材料内部的三维图像；

对人体是没有伤害的；

可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等）