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HORIBA纳米颗粒分析仪 SZ-100 V2
HORIBA纳米颗粒分析仪 SZ-100 V2

参考价格

面议

型号

SZ-100 V2

品牌

HORIBA

产地

上海

样本

暂无
HORIBA(中国)

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核心参数
  • 误差率:

    -
  • 分辨率:

    -
  • 重现性:

    -
  • 仪器原理:

    动态光散射
  • 分散方式:

    -
  • 测量时间:

    -
  • 测量范围:

    -500 mV ~ +500 mV
标签:

HORIBA纳米粒度仪

HORIBA SZ-100 V2

国产纳米粒度仪

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SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。


SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。



产品特点



·  同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数

·  宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%

·  自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

·  软件操作简单功能强大,一键测量

·  双光路双角度粒径测量(90° 和173°)

·  采用微量样品池



技术参数



粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法)

粒径测定范围:0.3nm ~10μm

粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm)

Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法

Zeta 电位测量范围:-500 mV ~ +500 mV

分子量测量原理:Debye plot

分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da

测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)

样品量:12μL ~ 1000μL


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