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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪图片
型号:HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 品牌: HORIBA
供应商报价: 面议 参考报价:
关注度:50 样本: 暂无
产地:上海
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HORIBA 科学仪器事业部

  • 厂商性质:代表处
  • 参展时间:15
  • 信用认证:工商已核实
  • 参观人数:183086

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 核心参数

  • 误差率
    -
  • 分辨率
    -
  • 重现性
    -
  • 仪器原理
    动态光散射
  • 分散方式
    -
  • 测量时间
    -
  • 测量范围
    -500 mV ~ +500 mV

SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。


SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。


产品特点


·  同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数

·  宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%

·  自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

·  软件操作简单功能强大,一键测量

·  双光路双角度粒径测量(90° 和173°)

·  采用微量样品池


技术参数


粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法)

粒径测定范围:0.3nm ~10μm

粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm)

Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法

Zeta 电位测量范围:-500 mV ~ +500 mV

分子量测量原理:Debye plot

分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da

测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)

样品量:12μL ~ 1000μL


HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 网址:http://HORIBA.cnpowder.com.cn/product_191870.html  

创新点

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