参考价格
面议型号
高校材料实验室用Phenom XL G3品牌
产地
荷兰样本
暂无探测器：
背散射探测器加速电压：
基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV电子枪：
CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时电子光学放大：
200,000 X光学放大：
3-19X分辨率：
优于 8 nm复纳科技扫描电镜
复纳科技高校材料实验室用Phenom XL G3
国产扫描电镜
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Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，可服务于高校材料实验室的教学实验、科研课题和日常样品观察，为不同研究方向提供微观形貌分析支持。
高校材料实验室通常面向多个课题组开放使用，样品来源和研究对象较为多样，从金属、陶瓷、粉体到高分子、复合材料，不同实验项目对样品尺寸、观察区域和测试条件也有不同要求。Phenom XL G3 的大仓室设计和多种真空模式，为多类型材料样品的观察提供了较好的灵活性。
设备**支持 100 × 100 mm 样品分析，并可同时容纳 36 个样品。平均成像时间约 40 秒，有助于满足教学实验和科研过程中多样品观察需求。设备采用 CeB6 灯丝，电子光学放大倍数**可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，可用于材料表面形貌、微观结构及局部特征观察。
Phenom XL G3 支持低、中、高三种真空模式，标配背散射探测器，同时可根据实验需求选配二次电子探测器和能谱探测器，满足不同材料研究方向对形貌和元素信息的分析需求。
针对高校实验室样品类型多、课题方向广的特点，可用于多类固体材料的微观形貌观察，为不同研究项目提供扫描电镜分析手段。
**可分析 100 × 100 mm 样品，并支持*多同时容纳 36 个样品，为材料实验中的多样品观察和批量测试提供便利。
平均成像时间约 40 秒，可帮助学生和科研人员快速获取材料微观图像，适用于课程实验、科研测试及日常样品分析。
采用 CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时。电子光学放大倍数**可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，可满足常规材料微观结构观察需求。
支持低真空、中真空和高真空三种工作模式，可根据材料样品的性质选择合适的观察条件，提高实验应用的灵活性。
设备标配背散射探测器，可选配二次电子探测器和能谱探测器，可根据教学课程和科研项目需求扩展相应分析能力。
采用台式结构设计，适合材料学院、科研实验室及高校公共测试平台进行设备部署和日常使用。
Phenom XL G3 可应用于以下高校科研与教学场景：
高校材料实验室样品观察
材料科学与工程教学实验
金属及合金材料研究
陶瓷与无机材料形貌分析
粉体及颗粒材料观察
高分子与复合材料研究
科研课题样品测试
公共实验平台材料表征
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 产品型号 | Phenom XL G3 |
| 产品全称 | XL 大仓室自动化电镜 |
| 产品类型 | 大仓室台式扫描电镜 |
| 光学放大 | 3 - 19 X |
| 电子光学放大 | 200,000 X |
| 分辨率 | 优于 8 nm |
| 电子枪 | CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时 |
| 光学导航相机 | 彩色 |
| 平均成像时间 | 约 40 秒 |
| **样品尺寸 | 100 x 100 mm |
| 样品承载 | 可同时容纳 36 个样品 |
| 加速电压 | 基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV |
| 高级模式 | 4.8 kV - 20.5 kV 连续可调 |
| 真空模式 | 低 / 中 / 高三种模式 |
| 探测器 | 背散射探测器 |
| 可选探测器 | 二次电子探测器、能谱探测器 |
适合。设备可用于材料微观形貌观察及相关实验教学，并能够服务不同材料方向的科研项目。具体实验内容可根据样品类型和课程需求进行配置。
可以。设备支持低、中、高三种真空模式，并可根据实际需求配置不同探测器，适用于金属、陶瓷、粉体、高分子及其他多类材料样品的观察。
Phenom XL G3 可根据应用需求选配能谱探测器，用于样品局部区域、颗粒或异物的元素分析，为材料研究提供形貌与成分信息。
产品价格根据具体配置、探测器选项及实际应用需求确定。用户可通过平台询价或留言提交样品类型和测试需求，获取相应的设备配置建议。
如需了解 Phenom XL G3 在高校材料实验室教学、科研及公共测试平台中的应用方案、设备配置或相关资料，可通过平台询价或留言提交实验需求与样品类型，获取进一步产品信息。
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