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日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤
日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤

参考价格

1万元以下

型号

NAUT21‑I

品牌

产地

日本

样本

暂无
深圳森泽工业品有限公司

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森泽无损检测/无损探伤仪器

森泽NAUT21‑I

国产无损检测/无损探伤仪器

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可在空中(空气耦合)检测,水中(水浸)检测两种方法并用的样机.

用空气耦合超声波检测方法检查出的缺陷(C扫描,可确定缺陷的平面信息)、再用水浸检测法更详细的检测(可确定缺陷的空间位置)。


利用空气耦合超声波检查可实现非接触检测,可使材料的内部缺陷信息平面成像可视化。再与水浸检查法并用,使材料内部的缺损信息3D成像。

例如、锂离子电池的检查、先用空气耦合超声波检测把握缺陷的平面位置、然后再用水浸超声波检查法进行断层成像确定缺陷的深度位置,为锂离子电池的质量提高提供**方案。

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创新点

空气耦合检测非接触无耦合剂,不会污染、损伤试样表面

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