
参考价格
1万元以下型号
NAUT21‑I品牌
产地
日本样本
暂无森泽无损检测/无损探伤仪器
森泽NAUT21‑I
国产无损检测/无损探伤仪器
看了日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤的用户又看了
留言询价
咨询日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤
使用微信扫码拨号

可在空中(空气耦合)检测,水中(水浸)检测两种方法并用的样机.
用空气耦合超声波检测方法检查出的缺陷(C扫描,可确定缺陷的平面信息)、再用水浸检测法更详细的检测(可确定缺陷的空间位置)。
利用空气耦合超声波检查可实现非接触检测,可使材料的内部缺陷信息平面成像可视化。再与水浸检查法并用,使材料内部的缺损信息3D成像。
例如、锂离子电池的检查、先用空气耦合超声波检测把握缺陷的平面位置、然后再用水浸超声波检查法进行断层成像确定缺陷的深度位置,为锂离子电池的质量提高提供**方案。


空气耦合检测非接触无耦合剂,不会污染、损伤试样表面
工况痛点精密仪器、小型自动化滑台、光学平台、检测设备微型传动常遇到:往复高频弯折,普通微索易疲劳断丝、寿命短外径公差差、股丝不均,传动间隙大、定位不稳防锈差,潮湿 / 微量腐蚀环境容易锈损卡死柔性不足
2026-08-18
一、工艺痛点静电卡盘(ESC)制造中,陶瓷生片电极印刷常见难点:大尺寸生瓷片薄、易形变,普通真空吸附易造成薄片翘曲、对位偏移电极层厚度不均、离模拉扯导致线条毛刺、断线,直接影响静电吸附均匀性浆料(导电
2026-08-18
一、工艺痛点贵金属首饰滚筒抛光工序常见难题:频繁抛光工况下,磨料 / 磨头损耗快,传统机型拆装更换耗时,停机久、产能低金银软质贵金属易过抛、边角塌边,转速与翻滚状态不好管控,成品光泽不均小件戒指、吊坠
2026-08-18
一、工艺痛点电池正极 / 负极粉体、精细陶瓷浆料湿法研磨常见难题:粉体团聚严重,单纯搅拌无法一次解聚,成品粒径分布宽,一致性差金属杂质管控严苛,普通球磨机内衬、介质磨损易引入污染,影响电池循环、陶瓷绝
2026-08-18
ppb级微量气体检测|日本NISSHA SGC®传感器气相色谱仪锂电粉体烧结、半导体CMP制程、热处理气氛管控、环境臭气检测等工况中,经常需要对氢气、硫化物、VOC挥发物等痕量气体开展快速分析。日本N
0~1000℃在线测温!日本ShopRKC BTM-30TAC-HT IP69K红外测温探头工业窑炉、粉体烧结、热处理产线、隧道烘烤工艺中,移动工件、高温物料需要非接触在线测温。日本ShopRKC(理
950℃高温稳定运行!日本KAK足立机工F型工业炉气氛循环风机工业粉体烧结、金属热处理、锂电材料烧成等高温窑炉工艺中,炉内温度不均、气氛滞留是导致产品色差、烧结不良、性能离散的核心诱因。日本KAK足立
日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤的工作原理介绍?
日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤的使用方法?
日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤多少钱一台?
日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤的说明书有吗?
日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤的报价含票含运费吗?
日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤有现货吗?
0有办事机构吗?
0销售电话是多少?