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日本KJTD SDSⅢ系列 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备
日本KJTD SDSⅢ系列 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备

参考价格

1-5万元

型号

SDSⅢ系列

品牌

产地

日本

样本

暂无
深圳森泽工业品有限公司

金牌会员

|

第1年

|

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标签:

森泽无损检测/无损探伤仪器

森泽 SDSⅢ系列

国产无损检测/无损探伤仪器

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SDSⅢ 系列是日本 KJTD 开发的全自动水浸式全数字超声波探伤成像系统,搭载自研 HIS3 高速宽带超声波探伤主机。设备采用水浸耦合 + 高精度 XYZ 扫描机构,扫描过程可实时输出 A/B/C 扫描图像,实现材料内部缺陷可视化成像。可检出内部裂纹、孔洞、分层、脱粘、空洞等缺陷,完成异种材料结合界面评价。适配半导体器件、精细陶瓷、复合材料、金属焊接件、航空零部件等试样,支持实验室研发检测,也可配置大行程机型用于小批量工件检测。整套系统基于 Windows 平台运行,可完成缺陷成像、尺寸测算、数据存储与回放分析,属于非接触式无损检测设备,无需破坏被测样品。

特点

丰富的扫描模式

SDS的6轴高精度扫描仪拥有丰富的扫描模式,通过起始点和结束点的两点设定,即可自动确定扫描参数。

QQ浏览器截图20260810143335.png

影像样本

QQ浏览器截图20260810143429.png

基本规格

基本规格
超声波探伤器 HIS5 MF脉冲星输出-200V (无负荷)
脉冲下降时间1.2ns以下
接收器带宽1.0~150MHz
增益调整范围0.0~75.0dB/0.25dB
光束路径测量0~40.96 微秒
CPU控制以太网
扫描仪(6轴扫描仪标准配置)扫描范围(mm)X:500mm、Y:400mm、Z:300mm
旋转台直径φ300
θ1/110°,θ2/±45°
扫描速度≤300mm/s。
扫描间距0.01~9.99mm/s。(X-Y-Z)
0.02~9.98°(R:转盘)
扫描模式平面、侧面、斜面、R面(鱼板形)、圆柱、球面、连续
其他扫描区域教学,摇杆遥控功能
扫描仪(6轴扫描仪为标准配置)数据收集点数≤200,000,000点(单次扫描录制)
数据保存①HDD ②DVD-RW ③USB接口
设定条件保存HD(探伤器与扫描仪设置)及其他
图像处理软件

色调表示:

  • 2种颜色,256级色调(可从包含黑白在内的1600万种颜色中任意选择)

  • 颜色16级调,RYB256级调

回声评估:

  • 音压阶调、深度阶调、MURAI阶调

实时处理:

  • 平面图像、断面图像、透视图像、立体图像、线框精确检测(放大检测)、图像内部测量、放大功能、光标定位、面积百分比显示、参数设置显示、回波高度显示、回波高度透视功能、指定点数据读取等。

支持局域网连接

适用领域

  • 【产品检测】汽车、飞机、电子元件、靶材、新型材料

创新点

自研 HIS3 高速宽带超声探伤单元,频带覆盖范围宽,可适配多种探头,回波信号采集速度快,弱缺陷信号捕捉能力强,微小缺陷检出灵敏度高

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