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日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1
日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1

参考价格

1万元以下

型号

HKT‑Lite0.1

品牌

产地

日本

样本

暂无
深圳森泽工业品有限公司

金牌会员

|

第1年

|

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核心参数
  • 误差率:

    ≤±0.5% FS
  • 分辨率:

    0.1%
  • 重现性:

    ≤±1.2%
  • 分散方式:

    红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散
  • 测量时间:

    0‑99min可调
  • 测量范围:

    0‑500μm
标签:

森泽粉体特性测试仪

森泽 HKT‑Lite0.1

国产粉体特性测试仪

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高性能型

无线操作,重量轻!

即使在无电源的环境中也能轻松进行0.1μm测量。


〈基本规格〉 

●重复性精度/0.4μm ※1 

●测量分辨率/0.1μm 

●测量精度/1.8μm以下 

●测量压力/0。8N以下(1mm厚度测量时)

●测量头/R30超硬球面

●测量范围/8mm※2

●测量支架/测量面φ50,陶瓷材质

●输出接口/RS232C、USB

●电源/硬币电池CR2032

●可选配件:•更换用测量头•PC数据传输线•手动泵


日本 Fujiwork HKT‑Lite0.1 为台式接触式经济型薄膜厚度检测仪,面向常规膜材的质检、来料筛查。分辨率 0.1μm,测量量程 0‑500μm,重复精度 0.3μm。采用机械恒定压力下压结构,配置硬质合金球面测头与陶瓷测量台面,结构简洁稳定。机身自带数显屏幕,支持 USB 数据输出,可将测量数据导出至电脑,适配 ASTM D374、GB/T 6672 薄膜测试标准。整机体积小巧,占用台面空间小,AC100‑240V 宽电压供电,适合包装膜、PET 膜、胶带、普通复合膜等常规材料,用于工厂质检室、产线离线抽检,兼顾性能与成本,不追求超高精度的大批量检测场景。

创新点

轻量化经济型机型,简化部分高端配置,保留核心测厚能力,降低设备采购成本,适合大批量常规样品检测。

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