全自动静态容量法活性氧化铝孔径分布分析比表面积测试仪性能参数
 
测试方法及功能:氮吸附真空容量法（真空静态法）,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径孔隙度测试,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定（单点及多点）,Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定;
 
测定范围:0.01（㎡/g）－－至无上限（比表面积）,0.35nm-500nm（孔径）;
 
测量精度:重复性误差小于1.5%;
 
真空系统:V-Sorb**的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径孔隙度测试的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;
 
液位控制:V-Sorb**的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;
 
控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;
 
样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;
 
压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr（0-133Kpa）,0-10Torr（0-1.33Kpa）;
 
压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度（一般误差为10%-15％）;
 
分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995;
 
极限真空:4x10－2Pa（3x10－4Torr）;
 
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;
 
测试气体:高纯N2气（99.999%）或其它（按需选择如Ar,Kr）;
 
数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;
 
数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.
 
北京金埃谱科技是北京市高新技术企业,位于我国**的高校云集,中科院研究院所汇聚的北京高新技术产业区-中关村.公司起源和服务于中国兵器系统行业,依托当地人才资源和兵器系统技术优势,致力于科学分析仪器的研发,生产及销售.以创立兵器和民用行业国有知名品牌为发展宗旨,通过与兵器系统密切合作,同时借鉴国外先进技术,研发具有自主知识产权的自动化及智能化检测仪器,为我国科研单位及生产企业提供与国际产品接轨,高可靠性,高性价比的一流科研设备.目前主要产品有V-Sorb X800 Series系列全自动智能BET法比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪;F-Sorb X400系列4站BET比表面积测试及BJH介孔径分布孔容孔隙率测量仪;H-Sorb X600系列全自动高温高压气体吸附分析仪; G-DenPyc X900系列全自动真密度测定分析仪.