参考价格
1万元以下型号
HKT‑Master0.01AAL品牌
产地
日本样本
暂无误差率：
≤±0.5% FS分辨率：
0.1%重现性：
≤±1.2%分散方式：
红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散测量时间：
0‑99min可调测量范围：
0‑500μm森泽粉体特性测试仪
森泽HKT‑Master0.01AAL
国产粉体特性测试仪
看了日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用的用户又看了
留言询价
咨询日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用
使用微信扫码拨号
HKT‑Master0.01AAL 是 HKT‑Master0.01AA 的大尺寸石质底座版本，除测量台支架结构外，其余核心硬件参数与 0.01AA 完全一致。配置 200mm×150mm 大型花岗岩测量台，可放置大尺寸板材、大规格陶瓷静电卡盘、大面积光学基板等大尺寸试样。分辨率 0.01μm，量程 0‑500μm，恒定 0.14N 气动低压下压，R30 硬质合金球面测头，重复测量精度 0.1μm。花岗岩底座刚性强、形变极小，规避大样品自重带来台面微变形，保障测量稳定性。支持 RS232C/USB 通讯，对接电脑软件采集、存储、导出厚度数据，可搭配脚踏开关，满足半导体、光学行业中大尺寸工件多点厚度检测，适合实验室精密质检与来料检验，遵循 ASTM D374、GB/T 6672 测试标准，AC100‑240V 宽电压供电。
〈规格〉
※除测量支架外，其他产品规格均与HKT-Master0.01AA相同
●测量支架/石制基准型
尺寸：约（长）200mm ×（宽）150mm ×（高）300mm
特点
大型花岗岩石质测量台，台面 200×150mm，专门适配大尺寸基板、大型静电卡盘等常规小台面无法放置的工件，拓展大试样检测能力。
花岗岩底座刚性高、热变形小，抑制大件样品自重造成台面微形变，保障亚微米级测量稳定，解决大工件测值漂移问题。
继承 0.01AA 全套核心精密单元，0.01μm 超高分辨率、0.14N 恒定低压气动下压，兼顾大样品兼容与超高测量精度，无需改动核心测量组件。
气动匀速下压机构，无冲击接触试样，避免划伤高价值陶瓷、光学基材；球面硬质合金测头耐磨，降低长期使用维护成本。
完整数据输出功能，可实现大工件多点扫描测量，记录全区域厚度分布，输出报告，满足半导体零部件品质追溯需求；脚踏开关解放双手，大件样品摆放操作更便捷。
大型花岗岩石质测量台，台面 200×150mm，专门适配大尺寸基板、大型静电卡盘等常规小台面无法放置的工件，拓展大试样检测能力。
摘要日本PRIMIX拥有近百年流体均质设备研发经验，旗下MARK Ⅱ 20加压式高温高压高速乳化分散机，是针对高温密闭反应、高熔点物料、高压纳米分散开发的专用设备。设备集成双端面高压机械密封、模块化高
摘要随着难熔金属、陶瓷复合材料、半导体靶材、新能源粉体及先进碳材料技术的快速迭代，传统电阻式高温炉存在升温慢、温场不均、极限温度低、耗材寿命短、真空气氛兼容性差等短板，已无法满足高端材料烧结、提纯、碳
真空手套箱是隔绝水氧、实现惰性气氛密闭操作的核心设备，广泛应用锂电、有机合成、半导体、金属增材制造等领域。PLA 品牌推出教学、科研、工业全系列真空手套箱，凭借精密气密工艺、双柱复合净化系统与智能闭环
日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用的工作原理介绍？日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用的使用方法？日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用多少钱一台？日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用的说明书有吗？日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用的报价含票含运费吗？日本 Fujiwork 大型台座超高精度薄膜测厚仪 HKT‑Master0.01AAL 静电卡盘用有现货吗？波莫纳有办事机构吗？波莫纳销售电话是多少？
移动端
工商已核实
