搬运性能进一步提升，能够实现稳定的连续厚度测量。

FT‑D200〈规格〉

重复精度／0.2μm※1

测量分辨率／0.1μm

测量精度／1μm以下※取决于测量头的精度

测量范围／10μm～500μm※2

测量压力／0.45±0.25N

紧凑型设计（内置显示器）

分辨率可达0.1微米  

通过专用软件实现PC控制  

尺寸/260（高）×300（宽）×309（深）毫米※仅指主机部分  

重量/约10公斤※仅指主机部分  

电源/交流100伏特※可根据需求调整为交流100～240伏特  

可选配件/更换用传感器、电脑、图表打印机

FT‑D200H 是日本 Fujiwork 推出的高端接触式连续薄膜厚度测量设备，为 FT‑D200 的高分辨率版本。测量范围 10‑500μm，分辨率可达 0.01μm，测量精度优于 1μm，测量压力 0.45N，轻柔测头减少薄膜压痕损伤。设备自带送料输送机构，卷材样品直接上机即可实现连续走膜测厚，无需人工引线，简化样品装夹流程。机身集成显示单元，可外接电脑实现厚度曲线实时绘图、数据存储导出。适配涂布薄膜、陶瓷生坯膜、锂电隔膜、高分子薄膜、箔材等试样，多用于实验室研发、涂布工艺评估、样品离线抽检，用来评价薄膜纵向厚度波动，为涂布、流延工艺优化提供数据支撑。整机紧凑型台式结构，重量约 10kg，部署灵活，适配新材料研发实验室使用。