Phenom Pharos G2 台式场发射扫描电镜

台式场发射扫描电镜 | 超硬材料微观表征方案

设备定位

飞纳 Pharos 系列台式场发射电镜（Phenom Pharos G2）专为超硬材料领域设计，服务于金刚石、硬质合金等样品的表面与断面结构分析。

技术参数：

产品型号：Phenom Pharos G2

产品全称：Pharos 台式场发射电镜

产品类型：台式场发射扫描电镜

光学放大：27 - 160 X

电子光学放大：2,000,000 X

分辨率：优于 1.5 nm

电子枪：肖特基热场发射电子枪

光学导航相机：彩色

加速电压：1 kV - 20 kV 连续可调

真空模式：低 / 中 / 高三种模式

探测器：背散射探测器、二次电子探测器

可选探测器：能谱探测器

技术亮点

电子源肖特基热场发射电子枪，为高分辨成像提供稳定电子束流。

放大与分辨电子光学系统** 2,000,000 X 放大倍率，极限分辨突破 1.5 nm，可捕捉微纳尺度结构细节。

电压灵活度1 kV 至 20 kV 连续可调，低电压下减少荷电效应，高电压下提升穿透深度，适配超硬材料等难导电样品。

真空策略三档真空环境：低真空模式缓解非导电样品荷电；中真空平衡成像质量与效率；高真空满足高分辨需求。

探测组合背散射探测器提供成分衬度，二次电子探测器呈现表面形貌；增配能谱探测器后实现微区元素定性。

部署便捷性台式机身，无需专用防震地基，常规实验室环境即可运行。

适用方向

金刚石晶粒形貌 / 硬质合金断面组织 / 超硬涂层截面结构 / 磨料磨损形貌 / 材料研发与品控

用户问答

样品范围？纳米材料、半导体、碳基材料、催化材料、陶瓷、锂电材料、光伏材料及各类超硬材料的高分辨形貌分析。

元素分析能力？选配能谱探测器后，可对颗粒、异物或微区进行元素组成判定。

报价方式？依配置组合、探测单元及应用场景综合评估。通过平台询价通道提交需求，获取定制化选型方案并预约试样。

联系通道

提交样品类型与测试需求至平台询价/留言入口，获取 Phenom Pharos G2 在超硬材料表征方向的官方配置建议与试样安排。