参考价格
1万元以下型号
HKT‑Lite0.1品牌
产地
日本样本
暂无误差率：
≤±0.5% FS分辨率：
0.1%重现性：
≤±1.2%分散方式：
红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散测量时间：
0‑99min可调测量范围：
0‑500μm森泽粉体特性测试仪
森泽 HKT‑Lite0.1
国产粉体特性测试仪
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高性能型
无线操作，重量轻！
即使在无电源的环境中也能轻松进行0.1μm测量。
〈基本规格〉
●重复性精度/0.4μm ※1
●测量分辨率/0.1μm
●测量精度/1.8μm以下
●测量压力/0。8N以下（1mm厚度测量时）
●测量头/R30超硬球面
●测量范围/8mm※2
●测量支架/测量面φ50，陶瓷材质
●输出接口/RS232C、USB
●电源/硬币电池CR2032
●可选配件：•更换用测量头•PC数据传输线•手动泵
日本 Fujiwork HKT‑Lite0.1 为台式接触式经济型薄膜厚度检测仪，面向常规膜材的质检、来料筛查。分辨率 0.1μm，测量量程 0‑500μm，重复精度 0.3μm。采用机械恒定压力下压结构，配置硬质合金球面测头与陶瓷测量台面，结构简洁稳定。机身自带数显屏幕，支持 USB 数据输出，可将测量数据导出至电脑，适配 ASTM D374、GB/T 6672 薄膜测试标准。整机体积小巧，占用台面空间小，AC100‑240V 宽电压供电，适合包装膜、PET 膜、胶带、普通复合膜等常规材料，用于工厂质检室、产线离线抽检，兼顾性能与成本，不追求超高精度的大批量检测场景。
轻量化经济型机型，简化部分高端配置，保留核心测厚能力，降低设备采购成本，适合大批量常规样品检测。
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