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日本 Fujiwork 薄膜厚度连续测量仪 FT‑D210NL(T) 静电卡盘用
日本 Fujiwork 薄膜厚度连续测量仪 FT‑D210NL(T) 静电卡盘用

参考价格

1万元以下

型号

FT-D210NL/FT-D210NLT

品牌

产地

日本

样本

暂无
深圳森泽工业品有限公司

金牌会员

|

第1年

|

代理商

工商已核实

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核心参数
  • 测量范围:

    20‑500μm
  • 误差率:

    ≤±0.5% FS
  • 分辨率:

    0.1%
  • 重现性:

    ≤±1.2%
  • 分散方式:

    红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散
  • 测量时间:

    0‑99min可调
标签:

森泽粉体特性测试仪

森泽 FT-D210NL/FT-D210NLT

国产粉体特性测试仪

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该设备为日本 Fujiwork 富士研发的薄膜厚度连续测量仪器,分为两款机型,FT‑D210NL 适配 20‑500μm 薄膜,FT‑D210NLT 夹头式结构适配 500‑3000μm 厚膜、复合膜材料。无需引线,直接从薄膜边缘送入即可完成连续厚度检测,可对接分切机等产线,也可用于实验室离线检测。分辨率可达 0.1μm,测量压力恒定 0.45N±0.25N,保障测量条件统一;机身紧凑型设计,自带显示面板,支持 PC 软件采集、记录、导出厚度曲线数据,可搭配打印机输出报告,适用于塑料膜、复合包装膜、铝箔膜等各类卷材厚度检测场景。


无需引线,即可从薄膜边缘开始连续进行厚度测量的**型号:
FT-D210NLT采用夹头式结构,可用于测量较厚的材料。

※标准套装中不包含电脑主机及图表打印机。※上述照片所示为FT-D210NL。


●重复精度/FT-D210NL:0.2μm ※1

     FT-D210NLT:0.4μm ※1

●测量分辨率/0.1μm

●测量精度/FT-D210NL:1μm以下※测量头精度

     FT-D210NLT:2μm以下※测量头精度

●测量范围/FT-D210NL:20μm~500μm※2

     FT-D210NLT:500μm~3000μm※2

●测量压力/0.45N ±0.25N

●支持专用软件的PC控制功能 

●尺寸/260(H)×300(W)×300(D)mm(主体部分)

●重量/约11kg(主体部分)

●电源/AC100V(支持定制,可更换为AC100–240V;测量分辨率可调:0.1)

●选配件/•可更换测量探头 •电脑端μm •图表打印机 

※1:此数值为通过升降器对测量探头进行上下重复测量时的精度值。

※2:根据被测物体的材质,测量范围可能会有所变化。

创新点

无引线边缘测量结构,薄膜无需穿引缠绕,直接边缘进料,换样简单,规避薄料拉扯损伤问题,适配产线在线取样检测。

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