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DPAI-VSDDE-Pro品牌
苏州兀象科学仪器产地
中国样本
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DPAI-VSDDE-Pro
国产X射线仪器
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DPAI-VSDD-Pro 代表*⾼性能的X射线硅漂移探测器，可在极低的成形时间下实现高分辨率。该探测器能够以极⾼的能量分辨率实现极⾼的计数率应⽤，它的高性能、小尺寸使其在X荧光光谱分析中得到⼴泛的应⽤。
产品描述：
● 125eV FWHM 分辨率 @ 5.9 keV
● ⾼峰背⽐: 15,000:1
● 感光⾯积：20 / 30 / 50mm² × 450 μm
● *⼤输⼊计数率：4000KCPS
● USB接⼝, RS232接⼝, Ethernet 接⼝（1000M可选）
● 纳秒级复位时间
● 谱图刷新率1000次/秒
● ⾃锁航空插座
● IP地址、波特率等通讯参数可设置
● ⽀持3种接⼝远程固件升级（⽆需断电）
● ⽆需液氮制冷
● 极限真空 10-7Torr
产品应用：
● X-Ray Fluorescence X射线荧光光谱仪
● RoHS / WEEE Compliance XRF
● OEM 及其特殊应⽤
● 在线分析检测
● 科研
规格参数概述
| 类 型 | VSDD-Pro数字多道探测器 |
| 感光⾯积 | 20 mm²/ 30mm² / 50mm² （可选） |
| 厚 度 | 450µm |
| 分 辨 率 @5.9keV(Fe55) | 125–140eV FWHM 达峰时间1µs |
| ⾼峰背⽐ | 15,000:1 |
| 窗⼝厚度 | 1µm / 8µm (Graphene/Be) |
| 准 直 器 | 多内层准直器 |
电荷灵敏度 前置放⼤器 | 定制设计，带复位功能 |
| 增益稳定性 | <20 ppm/°C（常规） |
| 极限真空 | 10-7 Torr |
| 电 源 | 4.5-9VDC |
| 质 保 期 | 1 年 |
| 设备⽣存期 | 通常5-10年，视使⽤情况⽽定 |
| 保存及运输 | 常规保存：温度：-10℃-30℃ 湿度：10%-90%（⾮凝结环境下） |
| 工作环境 | 0℃-50℃ |
准直器的使⽤
⼤多数探测器都装有内部准直器，以提⾼光谱质量。X射线在探测器有效区域边缘附近相互作 ⽤，可能会由于部分电荷收集⽽产⽣逃逸峰。 在某些应⽤中，这些逃逸峰会影响感兴趣信号。内部准直器将X射线限制在产⽣完整信号的有 效区域内。准直器可根据探测器类型改进峰背⽐（P/B）、消除逃逸峰和改善准直器⼲扰峰。
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