参考价格
1万元以下型号
TOMOS-50R1品牌
产地
日本样本
暂无功率（kw）：
DC24V 供电，额定功率 0.2kW重量（kg）：
约 25kg（含主机，不含显示器）规格外形（长*宽*高）：
参考整机尺寸约 W290×D460×H550mm（不含显示器）Sreen其它辅助设备
SreenTOMOS-50R1
国产其它辅助设备
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日本 FLOVEL TOMOS-50R1 广视野环形照明双面显微镜系统，是针对电子元器件、光学器件检测升级的高精度双面成像设备，创新融合环形照明与同轴光技术，实现约 9mm×7mm 的超大视野拍摄，可一次性完整捕捉电容器、电阻器、LED 芯片、镜头等大型 / 异形样品的正反面全貌，**解决传统显微镜视野局限、双面检测需拆装的痛点。
设备搭载双 200 万像素 Color/Mono 相机，双 0.5 倍镜筒设计，通过正立 / 倒立光路同步捕捉样品正反两面；配备环形照明 + 同轴聚光灯双光源系统，可灵活切换照明方式，清晰呈现样品表面缺陷、纹理与深层特征；粗微动调节行程** 30mm，XY 轴 ±10mm 移动范围，适配不同尺寸样品的高精度定位。
软件层面内置表裏光轴补偿、镜头倍率补偿、图像锐化、双面图像合成等功能，支持 Windows 11 Pro 操作系统，可实现双面自动拍摄、自动测量与数据记录。机身支持软件与样品夹定制，可根据客户工件形状与材料定制适配夹具与测量算法，广泛应用于电容器、电阻器、LED 芯片、透镜、印刷电路板、光通信部件等的双面外观缺陷、位置偏移、尺寸测量，是电子与光学器件质量管控的高精度检测解决方案。
超广视野双面成像：9mm×7mm 大视野，可完整拍摄电容器、镜头等全尺寸样品，突破传统显微镜视野局限。
环形 + 同轴双光融合：环形照明适配表面瑕疵，同轴光适配深层特征，多模式照明全面覆盖各类检测需求。
双面同步自动采集：双相机、双光路同步拍摄，软件自动光轴补偿，实现一键双面成像与测量。
工业级定制扩展：支持软件功能（测量算法、输出格式）与样品夹定制，适配客户专属检测需求。
高精度自动化测量：内置双面图像合成与自动边缘检测功能，实现无人化高精度检测。
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