参考价格
1万元以下型号
WPA-300、WPA-300-L品牌
产地
日本样本
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SreenWPA-300、WPA-300-L
国产其他
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Photonic Lattice WPA-300 系列三波长大位相差双折射分析仪，是日本 Photonic Lattice 针对大位相差样品检测需求推出的专属测量设备，区别于常规位相差仪，通过 523nm、543nm、575nm 三波长数据交叉计算，突破传统设备量程瓶颈，实现 0~3500nm 超宽范围位相差的面分布全域测量。
设备搭载 5 倍高清偏光图像传感器，像素规模达 57 万，位相差重复精度 1σ＜0.1nm，轴方位精度 1σ＜0.1°，可清晰捕捉细微位相差变化，精准还原厚膜、高应力树脂等大位相差样品的内部应力分布。系列提供 WPA-300 台式、WPA-300-L 大台面两款机型，覆盖从微米级小样品到中大型工业部件的全场景检测，适配汽车仪表板、胶片、光学膜片等产品的品质管控。
配套 WPA-View 专业分析软件，支持应力值一键换算、广角角补偿、实时解析等功能；GigE 高速相机接口，AC100~240V 宽幅电源适配，机身轻量化设计，WPA-300 仅重 15kg，安装灵活，是高分子材料、汽车零部件、光学电子等行业大位相差样品研发与品控的专属核心设备。
✅ 三波长交叉计算，专属大位相差 0~3500nm 面分布测量
✅ 5 倍高清传感器，细微位相差变化清晰可视化
✅ 亚纳米级精度，位相差 1σ＜0.1nm，轴方位 1σ＜0.1°
✅ 双机型覆盖台式到大台面，适配多样品尺寸需求
✅ 专业分析软件，应力换算、广角补偿等多功能拓展
✅ 轻量化机身，宽幅电源，安装运维便捷
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