参考价格
1万元以下型号
AF・ミクロン 系列（高灵敏度型 0.1μm 级）品牌
产地
日本样本
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SreenAF・ミクロン 系列（高灵敏度型 0.1μm 级）
国产其他
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在精密制造、电子研发、汽车零部件加工等行业，微小高度、台阶形状、表面平整度的高精度测量，是保障产品品质的核心。传统测量工具精度不足、操作繁琐，且难以捕捉高速温度变化的细微数据，成为工业质检的痛点。
日商精密光学 AF・ミクロン 光切断测定机，为高精度三维测量提供了专业解决方案。设备结合了光切断 slim imaging和spot light imaging的双重优势，搭载自动对焦（AF）驱动系统，可实现 10 倍固定倍率的高清观测，同时支持 5 倍、20 倍倍率按需调整。
采用**的AF 连续追踪方式，无需手动切换即可快速捕捉台阶形状、断面形状等关键形态；通过狭缝光学系统进行深度高度测量，Z 轴数字线性标尺分辨率达0.1μm，重复精度控制在 **±1μm** 以内，能够精准识别微米级的高度差。设备支持自动捕捉台阶变化，Z 轴驱动通过红色激光点实现高速追踪，在 XY 轴移动的同时完成快速、精准的高度测量，大幅提升质检效率。
设备还可根据用途选择 30°、60°、120° 等多种光切断仰角，适配不同形状的被测物体；支持卤素光源与半导体激光器（Class 2）双光源选择，可在受光敏感元件环境下稳定工作，**替代传统微米深度高度测量设备。从精密模具、电子基板，到汽车冲压部件，AF・ミクロン光切断测定机都能提供可靠、精准的测量支持，是精密加工行业的理想检测设备。
光切断 + 点光双重成像，AF 自动对焦连续追踪，0.1μm 超高分辨率，±1μm 重复精度，多光切断仰角可选，双光源适配，精密加工 / 电子制造专用高度测量设备。
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