工作原理

HS-XT2型X荧光光谱仪采用能量色散X荧光技术,其原理是通过X射线管发出X射线照射到样品上，测量和分析样品产生的X射线荧光，即可获知样品的元素组成，得到物质中的定性和定量信息。

性能特点

●  测定元素：元素周期表中氟(F) -铀(U)元素
●  含量范围：ppm-100%(视不同基体定)
●  样品形态：固体、液体、粉末、薄膜样品
●  探测器：电制冷SDD
●  操作特点：硬件上置式设计，长时间使用不会出现激发和接收装置污染问题，硬件无需维护
●  样品自旋，检测面积更大，检测样品更具有代表性，稳定性更好
●  温度控制：自适应恒温控制系统
●  安全性能：迷宫式设计，X射线发生部分采用铅屏蔽，互锁设计
●  分析速度快，及时提供分析数据指导生产。每个样品在几分钟内得到分析结果，大大提高工作效率
●  定制化的中文操作软件，功能齐全，操作简单易学，适合实验室使用

主要技术指标

探测器
● 典型分辨率: 129ev
● 输出计数率700KCPS
● 处理芯片：ASIC高速采集芯片
● 峰背比 ≥25000，峰尾比＞1800
● 窗口特点：超薄窗口，极大增加轻元素的信号采集强度
● 处理器：原装进口多道数据采集系统

X射线管
● 高压：0-50kv、0-60kv、0-85kv视测试元素和检出限定
● 电流：0-4000uA、0-8000uA、0-15000uA
● 功率：50W、75W、200W
● 稳定性：8小时0.2%

高压发生器
● 输入电压：24VDC
● 输入电流：4A、10A、25A(匹配不同的X射线管 )
● 输出电压：50Kv、60Kv、85Kv
● **功率：50W、75W、200W
● 稳定性：8小时0.5%

光谱分析系统控制和数据处理系统
● 16位模/数转换器
● 24英寸显示器
● 戴尔品牌计算机
● 激光打印机

规格参数
● 检测方法：标准曲线法，理论系数法，基本参数法等根据客户需要配备
● 工作环境温湿度范围：温度5~30℃，相对湿度小于等于80%
● 电源要求：220V+10%，50Hz
● 外观尺寸：750mm*550mm*710mm
● 重量：约90kg