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美国博曼（Bowman）BA-100系列 X射线荧光毛细管镀层测厚仪 M系列
美国博曼（Bowman） BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪;为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。
仪器型号：BA-100-M-uSPOT
仪器采用*前沿的uSPOT多导毛细管技术，实现极小光斑的测量，测量光斑为15um
适用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的镀层厚度测量、材料分析、溶液分析；尤其适用于化学镍金（ENIG）、化学镍钯金（ENEPIG）、化学磷P%的分析
可测元素范围广泛，Al13—U92
成份分析*多可达25种元素
*多可测4层镀层+基材层的镀层厚度
精度高
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