Horiba X射线荧光分析仪可快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外，通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面，选取所需要的测试点，操作简单。

Horiba X射线荧光分析仪技术参数：

★ Pb/Hg/Cd/Br检出下限2ppm， Cr检出下限5ppm

★ 使用1.2mm/3mm X射线导管**技术（XGT）实现微小区域的高灵敏度分析

★ 采用大型试样室（460X360X150㎜）

★ 试样为塑料、金属、纸、涂料、油漆等，并实现无损检测

★ 可使用CCD照相机（50倍）指定试样的位置 （业内**。X射线?光学同轴照射）

★ 测定可一键实现简单操作

★ 自动元素干扰修正、厚度补偿

★ 数据输出到EXCEL并可依据管理值实现自动判定功能