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超高分辨率光谱仪
超高分辨率光谱仪

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英国

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先锋科技(香港)股份有限公司

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光谱检测分析仪

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结合创新型的光学器件设计,SR-750配合Andor公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD,可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750可以配用多种附件,拓展应用领域,在透射/反射/吸收光谱、Raman光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中,提供**的系统解决方案。

主要特点:

l分辨率**可达0.02nm

l多路光谱优化光路,低串扰,高密度多路光谱探测

l针对每台谱仪记录三光栅塔轮信息,便于以后光栅升级

l双探测器出口选项,可安装不同类型探测器满足不同实验需求

l多样化的附件选择

l支持单点探测器,波长**可达12um

l光学元件镀银选项,保证红外探测器更好的性能

超高分辨率光谱仪技术参数指标:

型号

SR750

焦距长度

500mm

通光孔径(F/#

F/9.7

焦平面尺寸

28mm×14mm

波长精度

0.03nm

光谱分辨率

0.02nm@2400l/mm, 300nm 0.04nm@1200l/mm,500nm

波长重复精度

10pm

杂光抑制比

2.6×10-5

光栅尺寸

68mm×68mm

超高分辨率光谱仪配置选项:

SR-750-A

1个狭缝输入口,1CCD输出口

SR-750-A-SIL

1个狭缝输入口,1CCD输出口,镀银选项

SR-750-B1

1个狭缝输入口,1个狭缝输出口,1CCD输出口

SR-750-B1-SIL

1个狭缝输入口,1个狭缝输出口,1CCD输出口,镀银选项

SR-750-B2

1个狭缝输入口,2CCD输出口

SR-750-B2-SIL

1个狭缝输入口,2CCD输出口,镀银选项

SR-750-C

2个狭缝输入口,1CCD输出口

SR-750-C-SIL

2个狭缝输入口,1CCD输出口,镀银选项

SR-750-D1

2个狭缝输入口,1个狭缝输出口,1CCD输出口

SR-750-D1-SIL

2个狭缝输入口,1个狭缝输出口,1CCD输出口,镀银选项

SR-750-D2

2个狭缝输入口,2CCD输出口

SR-5750-D2-SIL

2个狭缝输入口,2CCD输出口,镀银选项

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