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装置概述
主要研究对象：目前材料、物理和化学研究的热点之一的二维薄膜材料体系。
主要功能：是用来测量热电薄膜的热电性质，包括电导和Seebeck系数。
2组成部分：主要由探针台和控制系统两部分组成。其中探针台包括四探针、变温台和光学显微镜；控制系统包括控温系统、电学性质测量设备和数据采集和分析系统。
主要特色：可以同时测定薄膜样品，例如单层石墨烯，的电导（四探针测量模式）和Seebeck系数；温度可从4K到400K连续可调；气氛可控。
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