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特点
123 eV FWHM Resolution @ 5.9 keV
高计数率 >1，000，000 CPS
超高峰背比 - 26，000:1
Be window (0.5mil) 或可以配套AMPTEK C2（Si3N4）
T-08 一体化封装
制冷 ΔT> 85K
前置放大器输出成峰时间 <60 ns
抗辐射
Si晶体厚度500um
内置多层准直器
70 mm2 准直后有效面积 50 mm2
应用
? 超快的台式和手持式分析仪
? SEM系统中用EDS进行扫描和绘图
? 在线过程控制及分类设备
? OEM定制应用
封装方式：可以适用AMPTEK所有封装产品，完全匹配
XR100FASTSDD with PX5
X-123FASTSDD
OEM Configurations
Vacuum Applications
分辨率：Be(0.5mil) and C windows
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