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美国Hinds成立于1971年，凭借其**的PEM（光弹变调制）技术研发了高稳定的应力双折射测量系统，具有目前世界上**的精度，可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角度).
?光学器件
?液晶玻璃基板， 液晶滤光片
?激光晶体
?DVDs
?光刻机部件， 如氟化钙窗口， 融石英光学器件，光掩膜板等
?相机镜头
?太阳能硅片，半导体晶圆
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